[发明专利]一种新型高效三结硅薄膜太阳电池无效

专利信息
申请号: 201010148323.7 申请日: 2010-04-16
公开(公告)号: CN102222708A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 孙福河;罗培青;章昌台;高石崇;郑加镇;訾威 申请(专利权)人: 江苏百世德太阳能高科技有限公司
主分类号: H01L31/042 分类号: H01L31/042;H01L31/028
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215104 江苏省苏州市吴中区吴中大*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 高效 三结硅 薄膜 太阳电池
【权利要求书】:

1.一种新型高效三结硅薄膜太阳电池,其特征在于:包括非晶硅顶电池、微晶硅中间电池、微晶硅锗底电池三结电池结构,且所述电池的结构均为P/I/N型;所述非晶硅顶电池的上部设置有透明导电玻璃衬底;所述微晶硅锗底电池的下部依次设置有透明导电薄膜和金属层;所述透明导电玻璃衬底为SnO2或ZnO;所述透明导电薄膜为ZnO;所述金属层为Al或Ag。

2.根据权利要求1所述的新型高效三结硅薄膜太阳电池,其特征在于:所述非晶硅顶电池,采用P/I/N结构,P型硅基薄膜采用硼掺杂的非晶硅或非晶硅碳,I型硅基薄膜采用非晶硅,N型硅基薄膜采用磷掺杂的微晶硅或纳米硅。

3.根据权利要求2所述的新型高效三结硅薄膜太阳电池,其特征在于:所述非晶硅顶电池,还包括在P/I界面间引入缓冲层B,该缓冲层B厚度为0-50nm。

4.根据权利要求1所述的新型高效三结硅薄膜太阳电池,其特征在于:所述微晶硅中间层电池,采用P/I/N结构,P型硅基薄膜采用硼掺杂的微晶硅或纳米硅,I型硅基薄膜采用微晶硅,通过改变薄膜的晶态比值Xc制成,所述I型硅基薄膜晶化率Xc值为50%-70%,N型硅基薄膜采用磷掺杂的微晶硅或纳米硅。

5.根据权利要求1所述的新型高效三结硅薄膜太阳电池,其特征在于:所述微晶硅锗底电池,采用P/I/N结构,P型硅基薄膜采用硼掺杂的微晶硅或微晶硅锗,I型硅基薄膜采用微晶硅锗,通过改变薄膜的晶态比值Xc制成,所述I型硅基薄膜晶化率Xc值为50%-70%,,N型硅基薄膜采用磷掺杂的非晶硅、微晶硅或纳米硅。

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