[发明专利]一种检测LTE系统双工方式的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信领域，更具体地，本发明涉及一种检测LTE系统双工方式的方法和装置。

背景技术

2004年底，第三代合作伙伴计划(3GPP，3rd Generation PartnershipProject)开始了通用移动通信系统技术的长期演进(Long Term Evolution，LTE)项目。LTE标准核心技术是OFDM(正交频分)技术，已经具备第四代通信标准的特征，因此LTE技术又称为准4G技术。LTE系统具有高频谱效率，高峰值速率，高移动性，低延时等优点，受到各大公司的青睐，在未来相当长的时间里LTE将引领无线通信的发展。

当前的LTE标准采用两种双工方式，分别是LTE时分复用(Time DivisionDuplexing，TDD)和LTE频分复用(Frequency Division Duplexing，FDD)。在LTE系统中，用户终端刚开机没有任何关于小区网络的先验信息，需要进行LTE系统小区搜索，检测LTE系统是FDD双工方式还是TDD双工方式，才能进行数据接收。现有的检测双工方式的方法，主要利用主同步信号和次同步信号间的距离来判别双工方式，这样的方法在检测到主同步信号后，对每个OFDM符号都需要检测次同步信号，运算复杂度较大，并且对主同步信号和次同步信号的检测准确率有较高要求。

发明内容

为克服现有LTE系统对同步信号的检测准确率要求高、检测中运算复杂度高的缺陷，本发明提出一种检测LTE系统双工方式的方法和装置。

在一个方面中，提供一种检测LTE系统双工方式的方法，包括：

步骤10)、对基带数字信号进行下采样；

步骤20)、把经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；

步骤30)、根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。

其中，步骤10)还包括：在对基带信号进行下采样之前对所述基带数字信号进行数字低通滤波，其中，数字低通滤波采用保留直流分量附近62个子载波上的数据，滤除其他子载波上的数据。

其中，步骤10)还包括：在对基带信号进行下采样之前对所述基带数字信号进行数字低通滤波，其中，数字低通滤波采用把通带设置成直流分量附近72个子载波。

在另一个方面中，提供一种检测LTE系统双工方式的装置，包括：

下采样器，用于对基带数字信号进行下采样；

延时归一化自相关器，用于对经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；

双工方式检测器，用于根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。

所述装置还包括：

数字低通滤波器，对所述基带数字信号先进行数字低通滤波，其中，数字低通滤波采用保留直流分量附近62个子载波上的数据，滤除其他子载波上的数据；或者数字低通滤波采用把通带设置成直流分量附近72个子载波。

通过应用本发明，基于LTE标准的帧结构的特征，并经过简单的运算，可以实现快捷、准确的双工方式的检测。

附图说明

图1是LTE系统中FDD无线帧的帧结构示意图；

图2是LTE系统中TDD无线帧的帧结构示意图；

图3是本发明的LTE系统双工方式检测方法的流程图；

图4是本发明的FDD系统延时10ms归一化自相关时域示意图；

图5是本发明的TDD系统延时10ms归一化自相关时域示意图；

图6是本发明的LTE双工方式检测装置的结构示意图；

图7是本发明的延时10ms归一化自相关器的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，对本发明所提出的一种LTE系统双工方式的方法和装置进行详细描述。