[发明专利]一种利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法无效
| 申请号： | 201010151216.X | 申请日： | 2010-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101813774A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 崔喜红;陈晋;沈金松 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89;G01S7/41 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人： | 陈惠莲 |
| 地址： | 100875*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 利用 雷达 测量 植物 地下 直径 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法，其特征在于，所述 方法包括如下步骤：
A、通过所述探地雷达扫描获得待测量的植物地下根的具体位置，并产 生相应的反射波形扫描数据；
B、选择经过该待测量的植物地下根的中心位置正上方的一个反射波的波 形图；
C、根据所述波形图，从中提取一个时间参数ΔT，该时间参数ΔT表示 从雷达发射的电磁波在到达根顶面时的反射波初至时间点开始到根底面反射 波的延时点结束；
D、通过公式D＝K×ΔT获得所述待测量的植物地下根的直径，其中，D 为所述待测量的植物地下根的直径，K为探地雷达所测量的地下根在该区域 范围内所对应的一个特性常数；
所述特性常数K的测量方法为：
将实际测量的植物地下根挖出，测量所述实际测量的植物地下根的直径 D1，所述实际测量的植物地下根与上述待测量的植物地下根位于相同区域；
通过上述步骤A-C获得所述实际测量的植物地下根的时间参数ΔT1；
通过公式K＝D1/ΔT1，获得所述特性常数K。
2.根据权利要求1所述的利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法， 其特征在于，所述探地雷达运用2GHz的频率天线来测量所述植物地下根的 直径。
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