[发明专利]一种应用于轴孔直径测量的光学系统

权利要求书

1.一种应用于轴孔直径测量的光学系统，其特征在于，所述光学系统包括：

待测几何量、光电探测装置、基准装置、固定调整装置、成像装置、照明装置；所述待测几何量、所述光电探测装置、所述固定调整装置、所述成像装置、所述照明装置相对于所述基准装置对称放置；所述待测几何量与所述成像装置的光轴不垂直；所述光电探测装置固定在所述固定调整装置上；所述成像装置沿所述固定调整装置的斜面方向固定在所述固定调整装置上；所述照明装置沿水平面方向固定在所述固定调整装置上；所述固定调整装置固定在所述基准装置上。

2.根据权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述待测几何量的平面与所述光电探测装置的平面共轭。

3.根据权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述成像装置和/或所述照明装置采用光学面朝下的放置方式。

4.根据权利要求1或3所述的光学系统，其特征在于，所述成像装置中的物镜采用3组4片的透镜。