[发明专利]二极管芯片的量测装置及量测方法有效
| 申请号： | 201010151743.0 | 申请日： | 2010-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN102221667A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | 戴明吉;李圣良;谭瑞敏;刘君恺;许中彦;林明德;戴光佑 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 祁建国;梁挥 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 二极管 芯片 装置 方法 | ||
1.一种二极管芯片的量测方法，其特征在于，包括：
将该二极管芯片设置在一热传导元件上；
将一电压施加在该二极管芯片，且借由一电流量测单元量测该二极管芯片的一瞬间启动电流，并借由一温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第一温度；
在该电压施加在该二极管芯片后，开始借由一温度控制模块，控制该热传导元件的温度，直到该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流为止；以及
当控制该热传导元件的温度后，倘若该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流，则借由该温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第二温度。
2.根据权利要求1所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，更包括：
计算该二极管芯片于施加该电压时的一实功率；
将该第一温度减去该第二温度，以求得该第一温度与该第二温度之间的一温度差；以及
将该温度差除以该实功率，以求得该二极管芯片的一热阻值。
3.根据权利要求1所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该电压为交流电压，而所量测到的该二极管芯片的电流及该瞬间启动电流为均方根电流。
4.根据权利要求1所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该电压为直流电压。
5.根据权利要求1所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该二极管芯片具有至少一发光二极管。
6.一种二极管芯片的量测装置，其特征在于，包括：
一热传导元件，用于设置该二极管芯片；
一电压源，用于将一电压施加在该二极管芯片；
一电流量测单元，用于当该电压源施加该电压在该二极管芯片时，量测该二极管芯片的电流；
一温度量测元件，用于量测该热传导元件的温度；以及
一温度控制模块，用于控制该热传导元件的温度；
其中当该电压源开始施加该电压在该二极管芯片时，该电流量测单元量测该二极管芯片的一瞬间启动电流，且该温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第一温度；
其中在该电压施加在该二极管芯片后，该温度控制模块开始将该热传导元件的温度控制至一第二温度，以使该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流，而该第二温度不等于该第一温度。
7.根据权利要求6所述的二极管芯片的量测装置，其特征在于，该量测装置计算该二极管芯片于施加该电压时的一实功率，将该第一温度减去该第二温度以求得该第一温度与该第二温度之间的一温度差，并将该温度差除以该实功率以求得该二极管芯片的一热阻值。
8.根据权利要求6所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该电压为交流电压，而所量测到的该二极管芯片的电流及该瞬间启动电流为均方根电流。
9.根据权利要求6所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该电压为直流电压。
10.根据权利要求6所述的二极管芯片的量测方法，其特征在于，该二极管芯片具有至少一发光二极管。
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