[发明专利]一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置有效

专利信息
申请号: 201010152394.4 申请日: 2010-04-20
公开(公告)号: CN101805927A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 陈博源;陈之战;施尔畏;严成锋;肖兵 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 高纯 绝缘 碳化硅 体单晶 生长 装置
【权利要求书】:

1.一种半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,该生长装置包括:真空室、石墨坩埚和感应 线圈,其中,所述真空室包括炉体和炉盖;所述炉体内设有石墨坩埚和感应线圈,且所述 感应线圈围绕于石墨坩埚外壁;所述炉体侧壁设有隔离腔进/抽气口,炉体底部还设有与真 空泵相连通的抽气口;且所述炉体侧壁内部从内到外依次设有相互独立的隔离腔和冷却水 腔。

2.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述隔离腔 内充有高纯惰性气体或为真空。

3.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉盖的 侧壁内部从内到外依次设有相互独立的隔离腔和冷却水腔,所述炉盖顶部设有中空的冷却 水腔,且所述炉盖顶部内的冷却水腔与炉盖侧壁内的冷却水腔连通。

4.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述石墨坩 埚和感应线圈之间还设有保温材料层。

5.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉体内 还设有温度传感器和压力传感器。

6.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉体侧 壁分别设有冷却水入口和冷却水出口。

7.如权利要求6中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述冷却水 入口位于炉体的下部侧壁,所述冷却水出口位于炉体的上部侧壁。

8.如权利要求1-7中任一所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述 炉体和炉盖的材质为金属。

9.一种半绝缘碳化硅体单晶的生长方法,该方法在权利要求1-8中任一所述的半绝 缘碳化硅体单晶的生长装置中进行。

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