[发明专利]一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置有效
申请号: | 201010152394.4 | 申请日: | 2010-04-20 |
公开(公告)号: | CN101805927A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 陈博源;陈之战;施尔畏;严成锋;肖兵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高纯 绝缘 碳化硅 体单晶 生长 装置 | ||
1.一种半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,该生长装置包括:真空室、石墨坩埚和感应 线圈,其中,所述真空室包括炉体和炉盖;所述炉体内设有石墨坩埚和感应线圈,且所述 感应线圈围绕于石墨坩埚外壁;所述炉体侧壁设有隔离腔进/抽气口,炉体底部还设有与真 空泵相连通的抽气口;且所述炉体侧壁内部从内到外依次设有相互独立的隔离腔和冷却水 腔。
2.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述隔离腔 内充有高纯惰性气体或为真空。
3.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉盖的 侧壁内部从内到外依次设有相互独立的隔离腔和冷却水腔,所述炉盖顶部设有中空的冷却 水腔,且所述炉盖顶部内的冷却水腔与炉盖侧壁内的冷却水腔连通。
4.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述石墨坩 埚和感应线圈之间还设有保温材料层。
5.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉体内 还设有温度传感器和压力传感器。
6.如权利要求1中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述炉体侧 壁分别设有冷却水入口和冷却水出口。
7.如权利要求6中所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述冷却水 入口位于炉体的下部侧壁,所述冷却水出口位于炉体的上部侧壁。
8.如权利要求1-7中任一所述的半绝缘碳化硅体单晶的生长装置,其特征在于,所述 炉体和炉盖的材质为金属。
9.一种半绝缘碳化硅体单晶的生长方法,该方法在权利要求1-8中任一所述的半绝 缘碳化硅体单晶的生长装置中进行。
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