[发明专利]电子组件测试分类机的测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种可同侧配置第一、二取放机构，而使机构设计简易且不占空间，并使作动时序的搭配上更加缩短作业时间，及提升测试质量的电子组件测试分类机的测试装置。

背景技术

请参阅图1，为中国台湾发明第86108470号「构件的交接装置」专利案，其装配于测试站11及载送装置12的侧方，该测试站11装配有信号连接至测试机的测试座111，而载送装置12于测试站11的前方设有第一入、出料载台121、122，用以载送待测/已测电子组件，并于测试站11的后方设有第二入、出料载台123、124，用以载送待测/已测电子组件，交接装置13于机架131的一侧装配有横向驱动源132，用以带动承架133作横向位移，该承架133的前面装设有具第一取放器135的第一L型悬臂134及第二取放器137的第二L型悬臂136，另于机架131上装配有第一、二垂直向驱动源138、139，用以分别带动第一、二传动件140、141作升降位移，而第一、二传动件140、141则连结于第一、二L型悬臂134、136，于执行取放待测/已测电子组件作业时，该交接装置13可先控制横向驱动源132带动承架133及第一、二L型悬臂134、136作横向位移，使第一、二取放器135、137同步于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124间作横向位移，接着利用第一、二垂直向驱动源138、139带动第一、二传动件140、141作升降位移，而使第一、二取放器135、137可于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124上取放已测/待测电子组件，并使位于测试座111上方的第一取放器135或第二取放器137下压待测电子组件，使待测电子组件的接脚与测试座111的接点相接触而执行测试作业；然而，由于第一、二取放器135、137必须于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124间作同步的横向位移，此一同动设计将会导致当第二取放器137已于第二入料载台123上完成取料作业后，若测试座111尚未完成测试作业，由于第一取放器135压抵待测电子组件执行测试作业，而会使第二取放器137必须于原位置上等待第一取放器135于测试座111上取出已测电子组件后，方可同步位移，以致第一、二取放器135、137的作动时序受到限制及增加等待作业时间；再者，由于第一、二取放器135、137压抵待测电子组件的下压力会直接影响测试质量，因而第一、二取放器135、137必须保持在相同的下压力，方可确保各待测电子组件于相同下压条件下所测试出的品质，但该第一、二取放器135、137配置于第一、二L型悬臂134、136上，于下压待测电子组件时，可能产生较差的水平度，而无法确保以相同的下压力下压待测电子组件，进而影响测试质量。