[发明专利]一种连铸结晶器渣层厚度的测量方法及装置

权利要求书

1.一种连铸结晶器渣层厚度的测量方法，其特征在于，利用固定在连铸结晶器侧面的测量装置，该装置由固定单元、测量/计算单元两部分组成，采用铜丝作为测量探头，通过测量铜丝在不同温度区间所逗留时间和铜丝行走速度，计算铜丝在结晶器内不同温度区间的行程，从而得出保护渣三层结构的厚度。

2.如权利要求1所述的连铸结晶器渣层厚度的测量方法，其特征在于，所述测量/计算单元包括：沿结晶器垂直方向上下移动的高精度电动丝杆、由所述丝杆带动、可同步上下移动的铜丝夹持器及其夹持的铜丝，铜丝下端用于下降接触保护渣和钢液并传递热量，另一端和热电偶连接，热电偶连接控制计算机。

3.如权利要求1所述的连铸结晶器渣层厚度的测量方法，其特征在于，测量步骤如下：

(1)，不同区域的温度产生不同的热量沿铜丝传递到热电偶，热电偶内两种不同合金接触高温铜丝后产生对应接点电势并形成电压信号，经补偿导线加强后引入一次仪表，一次仪表产生对应电流信号后，经A/D转换由模拟信号转为数字信号，反馈至控制计算机，并形成带有温度变化的和时间对应的曲线，

(2)，计算温度发生跃升的时间点，得出每个温度区域铜丝的停留时间，分别计为t₁、t₂、t₃，

(3)，根据铜丝下降速度V和铜丝在每个温度段的逗留时间t_n，得出精确的保护渣三层结构厚度，L＝V×t，其中，L：结晶器内不同结构保护渣厚度mm，V：铜丝下降速度mm/sec，T_n：铜丝在每个温度段的逗留时间sec。

4.如权利要求1所述的连铸结晶器渣层厚度的测量方法，其特征在于，铜丝头部接触颗粒渣层后的计时时间为0.80-1.20sec，铜丝头部接触颗粒层后的计时时间为0.40-0.80sec，铜丝头部接触熔渣层后的计时时间为0.20-0.38sec。

5.如权利要求1所述的连铸结晶器渣层厚度的测量方法，其特征在于，铜丝移动速度为26-38mm/sec。

6.一种连铸结晶器渣层厚度的测量装置，所述装置固定在连铸结晶器侧面，其特征在于，所述装置由固定单元、安置其上并固定的测量/计算单元两部分组成， 所述测量/计算单元包括：沿结晶器垂直方向上下移动的高精度电动丝杆、由所述丝杆带动、可同步上下移动的铜丝夹持器及其夹持的铜丝，所述铜丝下端用于下降接触保护渣和钢液并传递热量，另一端和热电偶连接，热电偶经由一次仪表连接控制计算机。

7.如权利要求6所述的连铸结晶器渣层厚度的测量装置，其特征在于，所述固定单元为钢质框架结构，框架上方覆盖低碳钢材质的薄钢板。

8.如权利要求6所述的连铸结晶器渣层厚度的测量装置，其特征在于，框架下方4个角部有强力磁铁制成的撑脚，使用时将框架连同测量/计算装置置于结晶器盖板上。