[发明专利]产生光刻胶图案的方法无效
申请号: | 201010153376.8 | 申请日: | 2010-04-21 |
公开(公告)号: | CN101872117A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 畑光宏;山本敏;藤裕介 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G03F7/004;G03F7/038 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 顾晋伟;王春伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 产生 光刻 图案 方法 | ||
1.一种产生光刻胶图案的方法,包括下列步骤(A)至(D):
(A)使用第一光刻胶组合物在衬底上形成第一光刻胶膜、使所述第一光刻胶膜曝露于辐射、然后使曝露过的所述第一光刻胶膜显影以获得第一光刻胶图案的步骤,其中所述第一光刻胶组合物包含:树脂、产酸剂和交联剂,所述树脂含有在其侧链中具有酸不稳定基团的结构单元并且其自身在碱性水溶液中不可溶或可溶性差,但是通过酸的作用变为在碱性水溶液中可溶,
(B)在190-250℃下烘焙获得的第一光刻胶图案10-60秒的步骤,
(C)使用第二光刻胶组合物在其上已经形成有所述第一光刻胶图案的所述衬底上形成第二光刻胶膜、使所述第二光刻胶膜曝露于辐射的步骤,和
(D)使曝露过的所述第二光刻胶膜显影以获得第二光刻胶图案的步骤。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法包括下列步骤(1)至(12):
(1)施加抗反射涂层组合物以获得抗反射涂层膜并且烘焙所述抗反射涂层膜的步骤,
(2)在所述抗反射涂层膜上施加第一光刻胶组合物然后进行干燥从而形成所述第一光刻胶膜的步骤,其中所述第一光刻胶组合物包含:树脂、产酸剂和交联剂,所述树脂含有在其侧链中具有酸不稳定基团的结构单元并且其自身在碱性水溶液中不可溶或可溶性差,但是通过酸的作用变为在碱性水溶液中可溶,
(3)预烘所述第一光刻胶膜的步骤;
(4)使预烘过的所述第一光刻胶膜曝露于辐射的步骤,
(5)烘焙曝露过的所述第一光刻胶膜的步骤,
(6)用第一碱性显影剂使烘焙过的所述第一光刻胶膜显影从而形成第一光刻胶图案的步骤,
(7)在190-250℃下烘焙获得的所述第一光刻胶图案10-60秒的步骤,
(8)在其上已经形成有所述第一光刻胶图案的所述衬底上施加第二光刻胶组合物、然后进行干燥从而形成第二光刻胶膜的步骤,
(9)预烘所述第二光刻胶膜的步骤,
(10)使预烘过的所述第二光刻胶膜曝露于辐射的步骤,
(11)烘焙曝露过的所述第二光刻胶膜的步骤,和
(12)用第二碱性显影剂使烘焙过的所述第二光刻胶膜显影从而形成第二光刻胶图案的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述步骤(1)和(7)使用相同的加热装置进行。
4.根据权利要求1所述的方法,其中在其侧链中具有酸不稳定基团的所述结构单元衍生自丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯,其中与酯部分中的氧原子相邻的碳原子是季碳原子并且所述丙烯酸酯和甲基丙烯酸酯具有5~30个碳原子。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述树脂还包含衍生自含羟基的丙烯酸金刚烷酯或含羟基的甲基丙烯酸金刚烷酯的结构单元。
6.根据权利要求5所述的方法,其中衍生自含羟基的丙烯酸金刚烷酯或含羟基的甲基丙烯酸金刚烷酯的所述结构单元的含量为5~50摩尔%,基于所述树脂的所有结构单元为100摩尔%。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述树脂还包含衍生自式(a1)表示的单体的结构单元:
其中Rx表示氢原子或甲基。
8.根据权利要求7所述的方法,其中衍生自式(a1)表示的单体的所述结构单元的含量为2~20摩尔%,基于所述树脂的所有结构单元为100摩尔%。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述树脂的含量为70~99.9重量%,基于所述第一光刻胶组合物中固体组分的量。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述交联剂是通过甘脲与甲醛、或与甲醛和低级醇进行反应而获得的化合物。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一光刻胶组合物中所述交联剂的含量为0.5~30重量份每100重量份所述树脂。
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