[发明专利]一种使用光电子注入进行电导调制的功率器件与方法无效

专利信息
申请号: 201010153505.3 申请日: 2010-04-22
公开(公告)号: CN101814527A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 王鹏飞;孙清清;丁士进;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 使用 光电子 注入 进行 电导 调制 功率 器件 方法
【权利要求书】:

1.一种使用光电子注入进行电导调制的功率器件,其特征在于,该功率器件包括至少一个光电子注入光源和一个功率MOS晶体管。

2.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述的光电子注入光源为发光二极管。

3.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述的功率MOS晶体管为平面型功率MOS晶体管,或为沟槽栅功率MOS晶体管。

4.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述光电子注入光源的正极与所述功率MOS晶体管的栅极相连,所述光电子注入光源的负极与所述功率MOS晶体管的源极相连。

5.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述光电子注入光源的负极与所述功率MOS晶体管的栅极相连,所述光电子注入光源的正极与所述功率MOS晶体管的源极相连。

6.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述光电子注入光源置于所述功率MOS晶体管衬底表面的上方。

7.一种使用光电子注入对功率器件进行电导调制的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

光电子注入光源对功率MOS晶体管的衬底表面进行垂直照射;

所述功率MOS晶体管栅极下方的漂移区被注入光电子;

通过控制光电子的注入可以对光电导体进行电导控制;

光电导体电阻的降低致使功率MOS晶体管的导通电阻降低。

8.如权利要求7所述的使用光电子注入对功率器件进行增强的方法,其特征在于,所述的光电子注入光源为发光二极管。

9.如权利要求7所述的使用光电子注入对功率器件进行增强的方法,其特征在于,所述的功率MOS晶体管为平面型功率MOS晶体管或为沟槽栅功率MOS晶体管。

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