[发明专利]一种记录异常数据的方法及装置无效

专利信息
申请号: 201010153766.5 申请日: 2010-04-21
公开(公告)号: CN101853196A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 徐融;王立春 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/34
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 518057 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 记录 异常 数据 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及嵌入式技术领域,尤其涉及一种记录异常数据的方法及装置。

背景技术

随着嵌入式技术的发展。嵌入式设备不仅能完成简单控制功能,已经能完成更多更复杂的功能,例如各种信号处理算法、各类协议等。复杂的嵌入式设备被设计成由多处理器组成的分布式架构,其对应的嵌入式系统更是复杂。对于如此复杂的嵌入式系统,虽然其软件和硬件的各个模块都经过严格的测试,但缺陷在所难免。为了提高软件质量,在实际应用中,检测到的缺陷一般都需要被记录下来。

一种传统的异常记录方法是:在异常发生后,在屏幕或终端打印异常相关数据,但这种方法提供的异常信息量有限;另一种方法是如果嵌入是设备可以外接存储设备,则在每次出现异常时,将异常相关数据转存到外部存储设备,由于对外部存储设置的访问速率较低,一旦级别高的异常触发设备复位或重启,转存操作会大大延长系统复位或重启时间,从而导致转存速度慢、效率低。

针对相关技术中存在异常数据转存速度慢、效率低的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种记录异常数据的方法及装置,以解决现有技术中异常数据转存速度慢、效率低的问题。

根据本发明的一个方面,提供了一种记录异常数据的方法,包括:嵌入式设备中的处理器检测到嵌入式设备发生异常;将异常数据存储至嵌入式设备的内存中的存储区;以及若符合转存条件,将存储区中的数据转存至与嵌入式设备连接的外部存储器。

根据本发明的另一个方面,提供了一种记录异常数据的装置,包括:检测模块,用于检测嵌入式设备的异常,并触发暂存模块;暂存模块,用于将异常数据存储至嵌入式设备的内存中的存储区;转存模块,用于依据转存条件,将存储区中的数据转存至与嵌入式设备连接的外部存储器。

通过本发明,通过设置转存条件,触发异常数据转存操作,解决了现有技术中每次出现异常都需转存异常数据,导致的转存操作存在的速度慢、效率低的问题。根据本发明的技术方案,可以确定合适的转存时机,避免异常数据存储区溢出,避免异常数据反复转存,从而减少了CPU访问外接设备的频率,大大节省了设备资源,并且应用范围广,可以适用于分布式嵌入式设备。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:

图1是根据本发明实施例一的嵌入式设备的结构示意图;

图2是根据本发明实施例二的嵌入式设备的结构示意图;

图3是根据本发明实施例三的定时触发转存方法的流程图;

图4是根据本发明实施例四的空间使用率触发转存方法的流程图;

图5是根据本发明实施例五的分布式嵌入式设备的结构示意图;

图6是根据本发明实施例六的应用于分布式嵌入式设备的转存方法流程图;

图7是根据本发明实施例七的记录异常数据的装置的结构框图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

实施例一

本实施例,提供了一种记录异常数据的方法。

图1是根据本发明实施例一的嵌入式设备的结构示意图,图1中示出了与本发明实施例的记录异常数据的方法相关的硬件,其中,嵌入式设备10包括:处理器101、存储介质(内存)102、模块103、以及耦接嵌入式设备10的外部存储器20(例如,可以但不限于是硬盘、U盘等低速存储器),存储区1020在存储介质102中。

结合图1,本实施例提供的记录异常数据的方法包括:

步骤S102,处理器101检测到嵌入式设备10发生异常,例如模块103发生异常;

步骤S104,实时地将与异常相关的异常数据存储至存储介质102中的存储区1020;以及

步骤S106,判断存储区1020符合转存条件,将存储区1020中的数据转存至外部存储器20。

由于现有技术中,嵌入式设备的CPU每次检测到系统出现异常,都需要将异常数据转存至外接存储介质。CPU频繁控制外部存储介质的读写操作,占用了大量的CPU资源,一旦级别高的异常触发设备复位或重启,转存操作会大大延长系统复位或重启时间,从而导致转存速度慢、效率低。

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