[发明专利]用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质有效
申请号: | 201010154091.6 | 申请日: | 2010-04-23 |
公开(公告)号: | CN102072894A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 汪泓;郭浔;刘春伟 | 申请(专利权)人: | 欧普图斯(苏州)光学纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01J3/44;G08B21/12;G08C17/02;B07C5/34 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 215021 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 纳米 结构 光谱 检测 方法 化学 生化 杂质 | ||
1.一种制造系统,包括:
一利用至少一种原材料生产产品的产品生产系统;和
一质量保证和生产控制系统,从产品生产系统获得制造材料,其中所述制造材料包括原材料、产品和中间材料或副产品,质量保证和生产控制系统将所述制造材料引入到一样品溶液、气体或气溶胶中,让样品溶液、气体或气溶胶中该制造材料与纳米表面相接触,用一激光束照射该制造材料和该纳米表面,激光束被该制造材料和该纳米表面散射产生一散射光,利用一光谱仪从该散射光获得一拉曼光谱,在该拉曼光谱中的一预定光谱范围内查找一有害物质的光谱信号,检测该制造材料中是否存在该有害物质,如果在该拉曼光谱中没有发现该特定光谱信号,则认为该制造材料合格,如果在该拉曼光谱中发现了该光谱信号,则检测该制造材料中有害物质的浓度,如果该浓度低于一预定的允许限度,则该制造材料合格,如果该制造材料中有害物质的浓度超出了一预定的允许限度,则拒绝该制造材料。
2.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述制造材料中有害物质的浓度低于10ppm。
3.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述有害物质包括三聚氰胺、三聚氰胺氰尿酸酯、三聚氰胺复合物或含氮化合物。
4.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述有害物质包括甜蜜素,环己基氨基磺酸钠,亚硝酸盐,硝酸盐,苏丹红I、II、III和IV,孔雀石绿,甲胺磷,乙酰甲胺磷,DDT,DDV,马拉硫磷,杀螟硫磷,溴氰菊酯,氯氰菊酯,甲基对硫磷,亚胺硫磷,乐果,硝基呋喃,呋喃唑酮,氯霉素,氯四环素,环丙沙星,氨哮素,恩诺沙星,呋喃丹,溴鼠隆,四亚甲基二砜四胺,氟代醋酸钠,氟乙酰胺,氯鼠酮,杀鼠酮,双苯杀鼠酮,阿米曲拉,久效磷,甲拌磷,乙拌磷,亚胺硫磷,对硫磷,倍硫磷,磷胺,二嗪农,涕灭威,敌百虫,艾氏剂,苯达松除草剂,氯四环素,氨哮素,罗丹明B,苯甲酸,连二亚硫酸,甲醛钠,邻苯二甲酸盐,二噁英,含Pd、Cd、Hg、As、Cr或Cu的化合物,氰化物,高氯酸盐,硫酸盐,碱性菊橙,硼酸,硼砂,硫氰酸钠,铅铬绿,碱性嫩黄O,NaOH,一氧化碳,硫酸钠,工业硫磺,工业染料,罂粟壳,糖精钠,蔗糖脂肪酸脂,KAlSO4,NH4AlSO4,硫磺熏蒸,TiO2或过氧化苯甲酰。
5.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述制造材料包括肽,氨基酸,含蛋白质的物质,腺嘌呤,白蛋白,来源于酪蛋白蛋白质水解物的氨基酸,铵盐,泛酸钙,酪蛋白酸盐或酪蛋白酸钠,叶绿素铜复合物钠盐,乳化燕麦粉,共聚维酮,氨基乙酸二羟化铝,明胶,胰高血糖素,瓜耳豆胶,透明质酸酶,咪唑啉基脲乳糖,苯丙氨酸氮芥,聚烯吡酮,聚烯吡酮-碘,硫酸鱼精蛋白,注射用蛋白水解物,氨基乙磺酸,硫鸟嘌呤,尿素,麦麸或玉米醇溶蛋白。
6.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,如果所述制造材料含有害物质,所述质量保证和生产控制系统让所述有害物质的分子吸附到纳米表面上,该吸附于纳米表面上的有害物质分子散射激光束。
7.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述样品溶液包含纳米颗粒,该纳米颗粒至少在一个方向上的尺寸小于1,000纳米,且该纳米颗粒具有纳米表面。
8.如权利要求7所述的制造系统,其特征在于,所述纳米颗粒包括一磁性或铁磁材料,或者是一种选自金属、金属合金、氧化物材料、硅、聚合物材料或它们的组合的材料。
9.如权利要求7所述的制造系统,其特征在于,所述纳米颗粒包括下述材料中的一种或多种:二氧化钛、二氧化硅、氧化锌、铝、银、金、铜、铁、钴、镍、铬、锌、锡、钯、铂和它们的组合。
10.如权利要求7所述的制造系统,其特征在于,所述纳米颗粒至少在一个方向上的尺寸范围是5nm-500nm。
11.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述样品溶液含有纳米管、富勒体、花托形、纳米花蕾或纳米花朵形式的碳,其中所述纳米表面位于纳米管、富勒体、花托形、纳米花蕾或纳米花朵形式的碳上。
12.如权利要求1所述的制造系统,其特征在于,所述质量保证和生产控制系统将样品溶液引到检测器上的纳米结构的纳米表面上,其中所述纳米结构包含一导电材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧普图斯(苏州)光学纳米科技有限公司,未经欧普图斯(苏州)光学纳米科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010154091.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有触摸输入功能的显示器滤光片
- 下一篇:测定设备用台架