[发明专利]防尘装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种防尘装置，特别涉及一种防止光学元件沾尘的防尘装置。

背景技术

光学元件在出货前需要对产品进行外观检测。现有的检测方法是将装有多个光学元件的承载盘放置在显微镜下观察，发现有不良的产品再用镊子取出。然而，在检测过程中全部的光学元件都一直处于无遮盖的空间中，空气中的灰尘很容易飘落在光学元件上，从而影响光学元件的光学效果。

发明内容

鉴于此，有必要提供一种在光学元件进行检测时防止灰尘飘落在光学元件上的防尘装置。

一种防尘装置，其包括底座、一对滑盖及承载盘。所述底座包括一对相互平行设置的滑轨。所述承载盘放置在所述滑轨之间用于承载待检测的光学元件。所述滑盖通过所述滑轨滑动连接在所述底座上，以在光学元件的检测过程中遮盖所述承载盘上暂未被检测到的光学元件。

相对于现有技术，本发明所提供的防尘装置通过在底座上设置一对可滑动的滑盖，以在检测光学元件的过程中遮盖放置于所述承载盘上暂未被检测到的光学元件，从而防止灰尘飘落在所述光学元件上。

附图说明

图1为本发明实施方式所提供的防尘装置的结构示意图。

图2为图1中的防尘装置的滑盖的结构示意图。

主要元件符号说明

防尘装置            1

底座                10

滑盖                12

承载盘              14

承载孔          140

光学元件        3

承载面          100

滑轨            102

挡板            120

连接臂          122

锁定螺栓        124

侧边            120a

顶面            120b

底面            120c

容置空间        13

连接面          122a

内侧面          122b

外侧面          122c

滑动凹槽        122d

螺纹通孔        122e

具体实施方式

请一并参阅图1及图2，本发明实施方式所提供的防尘装置1包括底座10、一对滑盖12及承载盘14。所述承载盘14为一扁平的长方体平板。所述承载盘14上开设有多个纵横排列的承载孔140。待检测的光学元件3依次放置在所述承载孔140内。

所述底座10为一扁平的长方体平板，其包括承载面100及设于承载面100的一对相互平行的滑轨102。所述滑轨102为一细长状长方体突块，其向上突出于承载面100，并沿所述底座10的长度方向延伸而成。所述两个滑轨102的间距大于所述承载盘14的宽度。

所述每一个滑盖12包括挡板120、一对连接臂122及至少一个锁定螺栓124。所述挡板120为一扁平长方体平板，其包括一对相互平行的侧边120a及平行相对的顶面120b和底面120c。所述连接臂122为一细长状长方体突块，其由所述底面120c靠近所述两侧边120a的位置垂直向下突出，并沿所述挡板120的长度方向延伸而成。所述挡板120及形成于挡板120两侧的连接臂122共同围成一“ㄇ”形的容置空间13。

所述连接臂122包括连接面122a、内侧面122b及外侧面122c。所述连接面122a与所述底面120c相互平行设置。所述内侧面122b位于所述容置空间13内且与所述连接面122a垂直相连。所述外侧面122c位于所述容置空间13外且与所述连接面122a垂直相连。

所述每一个连接臂122的连接面122a上沿所述连接臂122的长度方向开设有一滑动凹槽122d。所述滑动凹槽122d的宽度大于所述滑轨102的宽度。所述滑动凹槽122d与所述滑轨102滑动配合，以使得所述滑盖12可以沿所述底座10上的滑轨102滑动。

所述每个滑盖12的至少一个连接臂122的外侧面122c上开设有贯通至所述滑动凹槽122d的螺纹通孔122e。所述锁定螺栓124穿过所述螺纹通孔122e与所述滑轨102相抵靠。通过调节所述锁定螺栓124，所述滑盖12可以相对固定于所述滑轨102上的任意位置。