[发明专利]实现芯片功能故障快速调试定位的方法及调试电路

权利要求书

1.一种实现芯片功能故障快速调试定位的方法，其特征在于：在芯片电路内嵌入一调试电路，当芯片出现功能故障时，通过该芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式；对待观察的芯片内部信号进行选择；选择好的芯片内部信号通过芯片的一个预定义好的管脚进行输出；通过观察芯片工作过程中某些内部信号的波形，并与设计时该信号的期望波形相比较，实现功能故障的调试与定位。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：使芯片进入调试模式并对待观察的芯片内部信号进行选择有两种实现方式：

第一种方式是，通过芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式，并根据所述输入的预定义好的信号对待观察的芯片内部信号进行选择；

第二种方式是，通过芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式，然后由芯片内部的CPU向一寄存器写入对待观察的芯片内部信号的选择数值，对待观察的芯片内部信号进行选择。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述两种实现方式由芯片的某一管脚输入的高电平信号或低电平信号，并配合其它管脚输入的预定义好的信号进行选择。

4.实现权利要求1所述方法中的调试电路，其特征在于，包括：

调试模式产生模块，用于产生调试模式信号，使芯片进入调试模式；所述调试模式包括调试模式一和调试模式二两种；

串并转换模块，将从芯片一管脚输入的串行数据转换成并行数据，即用于产生调试模式一工作方式，又用于产生对待观察的芯片内部信号进行选择的选择信号；其中，串行输入的前8个数据用于参与选择调试模式一；进入调试模式一后串行输入的后6个数据用于对待观察的芯片内部信号进行选择；

待观察的内部信号模块，用于产生多个待观察的芯片内部信号；

6位寄存器，在调试模式二时，由芯片内部的CPU向该寄存器中写入期望的数值，在CPU的控制下，产生对待观察的芯片内部信号进行选择的选择信号；

选择信号选择器，与6位寄存器和串并转换模块相连接，在芯片一管脚输入电平信号的控制下，用于选择采用6位寄存器产生的选择信号或串并转换模块产生的选择信号；

观察信号选择器，与待观察的内部信号模块和选择信号选择器相连接，在选择信号的控制下选择相应的待观察的内部信号作为观察信号输出；

观察信号输出控制器，与调试模式产生模块和观察信号选择器相连接，在调试模式信号的控制下，选择输出观察信号或芯片的正常功能信号。

5.如权利要求4所述的调试电路，其特征在于，当芯片的某一管脚输入高电平时，并配合其它管脚同时输入的不同的预定义好的信号，由调试模式产生模块使芯片进入调试模式一；当前述的某一管脚输入低电平时，并配合其它管脚同时输入的不同的预定义好的信号，由调试模式产生模块使芯片进入调试模式二。