[发明专利]光学型位置检测器及光学装置

权利要求书

1.一种光学型位置检测器，其中，

具备：

第1发光部，其出射第1被检测光；

第2发光部，其与上述第1发光部并设且出射第2被检测光；

光学刻度盘，其包含光学图案，所述光学图案相对于上述第1发光部及上述第2发光部沿着上述第1发光部及上述第2发光部的并设方向相对移动，并且交替配置第1区域、以及对于上述第1被检测光和上述第2被检测光具有与上述第1区域不同的透过率或反射率的第2区域；

受光部，其基于透过上述光学刻度盘的上述第1被检测光的光强度或由上述光学刻度盘反射的上述第1被检测光的光强度，输出第1输出信号，并且基于透过上述光学刻度盘的上述第2被检测光的光强度或由上述光学刻度盘反射的上述第2被检测光的光强度输出第2输出信号；

信号选择机构，其基于上述第1输出信号或上述第2输出信号的大小，选择上述第1输出信号及上述第2输出信号的其中一方而作为位置检测信号；

位置信息取得机构，其基于上述位置检测信号取得与上述光学刻度盘联动的移动构件的位置信息。

2.如权利要求1所述的光学型位置检测器，其特征在于，

上述第1发光部和上述第2发光部的间隔，以及上述并设方向的由上述第1区域构成的图案宽度及由上述第2区域构成的图案宽度，设定成上述第1输出信号和上述第2输出信号的相位差成为90度。

3.如权利要求1或2所述的光学型位置检测器，其特征在于，

上述信号选择机构在上述第1输出信号大小为第1规定值以上的情况下且为大于上述第1规定值的第2规定值以下时，选择上述第1输出信号而作为上述位置检测信号，在上述第1输出信号大小为小于第1规定值的情况或者超过第2规定值的情况下，选择上述第2输出信号而作为上述位置检测信号。

4.如权利要求1～3中任一项所述的光学型位置检测器，其特征在于，

上述信号选择机构将上述第1输出信号所涉及的波形的两振幅的中心值和上述第1输出信号的大小的差分的绝对值设为第1判定值，

并将上述第2输出信号所涉及的波形的两振幅的中心值和上述第2输出信号的大小的差分的绝对值设为第2判定值，

在上述第1判定值为上述第2判定值以下的情况下，选择上述第1输出信号而作为上述位置检测信号，在上述第1判定值的大小超过上述第2判定值的情况下，选择上述第2输出信号而作为上述位置检测信号。

5.如权利要求1～4中的任一项所述的光学型位置检测器，其特征在于，

上述第1发光部及上述第2发光部以交替出射上述第1被检测光和上述第2被检测光的方式动作。

6.一种光学装置，其中，

具备：

权利要求1～5中的任一项所述的光学型位置检测器；

光学构件，其以与上述移动构件联动的方式被设置；

驱动源，其对上述移动构件及上述光学构件进行驱动。