[发明专利]修补方法以及主动元件阵列基板无效

专利信息
申请号: 201010156557.6 申请日: 2010-04-07
公开(公告)号: CN101813840A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 蔡东璋 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 修补 方法 以及 主动 元件 阵列
【权利要求书】:

1.一种修补方法,其特征在于,所述修补方法适于修补一主动元件阵列基板,所述主动元件阵列基板包括一基板、多条扫描线、多条数据线、多个主动元件、多个像素电极以及多条共通线,至少其中一条扫描线具有一断线瑕疵,所述扫描线与所述数据线彼此交错以于所述基板上定义出多个子像素区域,所述主动元件分别与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接,各像素电极位于其中一个子像素区域内,并与其中一个主动元件电连接,而所述修补方法包括:

切除邻近于所述断线瑕疵的其中一条共通线,以形成一与所述共通线电绝缘的切除区块;以及

令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接,以使所述切除区块与具有所述断线瑕疵的所述扫描线电连接。

2.如权利要求1所述的修补方法,其特征在于,所述主动元件分别具有一栅极、一源极以及一漏极,所述源极与其中一条数据线电连接,所述漏极与其中一个像素电极电连接,而令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接的方法包括:令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的所述二主动元件的二漏极焊接。

3.如权利要求1所述的修补方法,其特征在于,令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接的方法包括激光焊接。

4.如权利要求1所述的修补方法,其特征在于,所述切除邻近于所述断线瑕疵的其中一条共通线的方法包括激光切除工艺。

5.一种主动元件阵列基板,其特征在于,所述主动元件阵列基板包括:

一基板;

多条扫描线,配置于所述基板上,其中至少其中一条扫描线具有一断线瑕疵;

多条数据线,配置于所述基板上,其中所述扫描线与所述数据线彼此交错以于所述基板上定义出多个子像素区域;

多个主动元件,配置于所述基板上,并分别与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接;

多个像素电极,配置于所述基板上,其中各像素电极位于其中一个子像素区域内,并分别与其中一个主动元件电连接;以及

多条共通线,配置于所述基板上,至少其中一条共通线具有一邻近于所述断线瑕疵的切除区块,其中所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接,以使所述切除区块与具有所述断线瑕疵的所述扫描线电连接。

6.如权利要求5所述的主动元件阵列基板,其特征在于,各主动元件具有一栅极、一源极以及一漏极,所述源极与其中一条数据线电连接,而所述漏极与其中一个像素电极电连接。

7.如权利要求6所述的主动元件阵列基板,其特征在于,所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的所述二主动元件的二漏极焊接。

8.如权利要求6所述的主动元件阵列基板,其特征在于,各漏极分别与其中一条共通线重叠。

9.如权利要求5所述的主动元件阵列基板,其特征在于,所述共通线位于所述像素电极下方。

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