[发明专利]盘检查装置有效
| 申请号： | 201010156929.5 | 申请日： | 2010-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101937696A | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 久保充正;亲松刚 | 申请（专利权）人： | 蒂雅克股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 谢丽娜;关兆辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
1.一种盘检查装置，其特征在于，具有：
用于检测从盘重放的数据的规定区间中的纠错数PIE和无法纠错数PIF的机构；
通过将上述纠错数PIE和上述无法纠错数PIF分别与规定的阈值进行大小比较而将上述盘识别为正常的盘、有损伤的盘、抖动性劣化的盘中的任一种的识别机构；以及
输出识别结果的机构。
2.一种盘检查装置，其特征在于，具有：
用于检测从盘重放的数据的规定区间中的纠错数PIE和无法纠错数PIF的机构；
通过将上述纠错数PIE和上述无法纠错数PIF分别与第一阈值、第二阈值进行大小比较而将上述盘识别为正常的盘、可研磨盘、无法研磨盘中的任一种的识别机构；以及
输出识别结果的机构。
3.如权利要求1或2所述的盘检查装置，其特征在于，上述识别机构将上述规定区间中的上述纠错数PIE的最小值或平均值与上述第一阈值进行比较，并将上述无法纠错数PIF的最大值与上述第二阈值进行大小比较。
4.如权利要求3所述的盘检查装置，其特征在于，上述识别机构在上述纠错数PIE的最小值或平均值超过上述第一阈值时，将上述盘识别为抖动性劣化盘或无法研磨盘；在上述无法纠错数PIF的最大值为第二阈值以下且上述纠错数PIE的最小值或平均值为上述第一阈值以下时，将上述盘识别为正常的盘；在上述纠错数PIE的最小值或平均值为上述第一阈值以下且上述无法纠错数PIF的最大值超过上述第二阈值时，将上述盘识别为有损伤的盘或可研磨盘。
5.如权利要求1至4中任一项所述的盘检查装置，其特征在于，还具有相应于输出的上述识别结果将上述盘分到多个堆料机中的某一个中的载入器。
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