[发明专利]一种基于关键点的数据序列线性拟合方法无效

专利信息
申请号: 201010157968.7 申请日: 2010-04-27
公开(公告)号: CN101826070A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 杜奕 申请(专利权)人: 上海第二工业大学
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍
地址: 201209 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 关键 数据 序列 线性 拟合 方法
【权利要求书】:

1.一种基于关键点的数据序列线性拟合方法,其特征在于,包含以下步骤:

步骤1、定义数据序列集X及参数中线距离阈值ε和极值点保持时间段阈值C(C=1,2,...,n);

步骤2、对各数据点进行极值点与转折点的判别,保存数据序列中的各极值点与各转折点;

步骤3、扫描整个数据序列集并过滤数据序列中的噪音干扰;

步骤4、将过滤后的极值点与转折点拟合得到该数据序列的关键点输出。

2.如权利要求1所述的基于关键点的数据序列线性拟合方法,其特征在于,所述的步骤1中,输入的数据序列集为:

X=<x1,x2,...,xi,...,xn>(0<i<n)。

3.如权利要求2所述的基于关键点的数据序列线性拟合方法,其特征在于,所述的中线距离阈值ε>0,其为用户可调节的自定义距离阈值。

4.如权利要求3所述的基于关键点的数据序列线性拟合方法,其特征在于,所述的步骤2包含以下步骤:

步骤2.1、定义极值点初始集合XIE和转折点集合XT,将数据序列集X的第一个数据点x1放入极值点初始集合XIE

步骤2.2、取i=2;

步骤2.3、i++,0<i<n;

步骤2.4、判断i是否在闭区间[2,n-1]内,若是,则跳转到步骤2.4,若否,则跳转到步骤2.2;

步骤2.5、判断数据点xi是否满足极值点和转折点条件:

条件一:xi>xi-1且xi>xi+1

条件二:xi<xi-1且xi<xi+1

条件三:数据点xi与前后数据xi-1、xi+1平均值的距离

|xi-xi+1+xi-12|>ϵ;]]>

若满足条件一或条件二,则将该数据点xi放入极值点初始集合XIE,即保存该极值点,并跳转到步骤2.3;

若满足条件三,则将该数据点xi放入转折点集合XT,即保存该转折点,并跳转到步骤2.3;

若都不满足条件一、条件二和条件三,则跳转到步骤2.3;

步骤2.6、将数据序列集X的最后一个数据点xn放入极值点初始集合XIE,并记录放入极值点初始集合XIE内的数据点的个数m。

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