[发明专利]三维干涉成像光谱方法

权利要求书

1.一种三维干涉成像光谱方法，其特征在于，同时获取物体的三维空间立体信息和一维光谱信息，包括以下步骤：

-设置一个双缝干涉装置，被测物体前放置一个狭缝；

-被测物体反射光在双缝后产生干涉，使用一个柱面镜将干涉光束收集到沿探测器某一行的水平方向；

-用二维CCD探测器置于柱面镜的像平面上接收干涉图；

-狭缝上沿狭缝方向的不同视场点的干涉强度分布被探测器的不同行接收，从而获得一维光谱和物体沿狭缝方向的一维空间信息，再推扫被测物体，即可获得物体平面的空间信息；

-进行傅立叶变换并计算波长各谱段的RGB值，获得被测物体的单色光谱图和复色照片；

-将双缝中的一条平移离开被测物体一段距离，用于产生不为零的初始相位差；

-用波长可调的激光光源作为照射光源，通过测量位相的变化值获得被测物体沿光轴方向的长度值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述波长可调的激光光源为波长可调制的激光二极管光源。