[发明专利]一种测试功能覆盖的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及测试功能覆盖的方法及装置。

背景技术

随着集成电路的广泛应用，对功能正确性及速度、功耗、可靠性等都有严格要求，同时，测试已经成为集成电路设计流程中开销最大的工作。功能覆盖测试可以更有效地说明哪些功能已经经过测试，从而明显地提高测试效率，因此，测试工作中的功能覆盖情况的统计是大规模集成电路设计验证中非常重要的步骤。

目前对功能覆盖的测试有两种比较通用的方法。一种是，人工列出详细的功能点，每个功能点即为一个测试点，根据测试点写出详细的测试计划，通过测试向量实现对测试点的逐一测试覆盖，然后由人工逐条检查测试计划的覆盖情况，如果某测试点被某项测试向量覆盖，则在其后进行人工标记。该方法主要是用人工操作，操作比较繁琐，功能覆盖测试的效率较低。

另一种方法是根据测试计划写出覆盖描述程序，将程序逐条仿真，每条程序仿真后都生成一个包含功能覆盖信息的数据记录，当程序仿真完成后，即可收集所有包含覆盖信息的数据记录。只能统计出测试通过的测试点的功能覆盖率，容易产生遗漏，不能准确统计出覆盖信息。

因此，以上两种通用的方法只能统计测试通过的测试点的功能覆盖率，并且实现过程比较繁琐或容易产生遗漏，不能满足测试工作的要求。

发明内容

本发明实施例提供一种测试功能覆盖的方法，用于实现较完整的功能覆盖测试，提高功能覆盖测试的准确性。

一种测试功能覆盖的方法，包括以下步骤：

通过测试向量对测试点进行测试，并存储被覆盖的测试点的测试标志码；

将存储的所有需参与测试的测试点的测试标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；

如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；

如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。

一种测试功能覆盖的装置，包括：

测试模块，通过测试向量对测试点进行测试；

第一存储模块，用于存储每个测试点的测试标志码及存储被覆盖的测试点的测试标志码；

控制模块，用于将所有需参与测试的测试点的标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。

本发明实施例通过为每个测试点增加测试标志码，且预先存储所有需参与测试的测试点的测试标志码，来判断测试点是否被覆盖。测试点若被测试向量覆盖(被测试即为被覆盖)则通过测试向量输出被覆盖的测试点的测试标志码，然后对被覆盖的测试点的测试标志码进行存储。将存储的被覆盖的测试点的测试标志码与所有需参与测试的测试点的测试标志码进行匹配，如果所有需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。由此可以统计出哪些测试点未被覆盖，从而实现对功能覆盖情况的较为准确的统计。

附图说明

图1为本发明实施例中功能覆盖测试装置的主要结构图；

图2为本发明实施例中功能覆盖测试装置的详细结构图；

图3为本发明实施例中功能覆盖测试的主要方法流程图；

图4为本发明实施例中添加测试状态的功能覆盖测试的详细方法流程图；

图5为本发明实施例中添加测试状态及测试次数的功能覆盖测试的详细方法流程图。

具体实施方式

本发明实施例通过为每个测试点增加测试标志码，且预先存储所有需参与测试的测试点的测试标志码，来判断测试点是否被覆盖。测试点若被测试向量覆盖(被测试即为被覆盖)则通过测试向量输出被覆盖的测试点的测试标志码，然后对被覆盖的测试点的测试标志码进行存储，将存储的所有需参与测试的测试点标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配，如果所有需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。由此可以统计出哪些测试点未被覆盖，从而实现对功能覆盖情况的较为准确的统计。

参见图1，本实施例提供一种测试功能覆盖的装置，其包括测试模块101、第一存储模块102和控制模块103。