[发明专利]光盘机烧录方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光盘机烧录方法，尤其是涉及光盘机在切换烧录倍速时，调整适当烧录功率，以确保烧录品质的烧录方法。

背景技术

可烧录型的光盘片一般通过读取头发出的激光光束照射光盘片，利用激光光束的烧录功率，在光盘片上烧录成凹洞或相变形等不同长度的记号，造成有记号及无记号间反射光量的差异，形成数字信号以记录数据。

如图1所示，为背景光盘机的烧录方法，利用主轴马达1转动光盘片2，使读取头3沿着光盘片2径向来回移动，并发射激光光束投射至光盘片2。根据转动光盘片内圈与外圈不同的移动速度特性，将光盘片2由内圈向外圈划分几个不同的多个烧录倍速区，由低烧录倍速(Data Transfer Rate)阶段性变化至高烧录倍速，例如2X，4X，6X至8X等烧录倍速区，以提高烧录效率。

因光盘片2的制造厂商繁多，所用的材料、成分及制作工艺上有所差异，造成光盘片2对激光光束具有不同的反应灵敏性。虽然，光盘片2在导入区4预先存储推荐各种烧录倍速适用的烧录功率、烧录策略(Write Strategy)及品质参数(即Beta参数)，但对不同光盘机的个别特性差异仍会产生不同的结果。因而在光盘片2内圈的导入区4，另规划功率测试区，供低烧录倍速2X对推荐烧录功率的前后范围进行实际烧录测试，并读出测试烧录记号，根据各记号所产生的反射光量、解码正确性、信号强度......等计算出品质参数，以评估烧录记号的好坏。再由推荐的品质参数为目标，选择相对应的烧录功率，作为该光盘片的最佳烧录功率，完成最佳功率控制(Optimum Power Control，简称OPC)测试。由于高烧录倍速的速度较快，无法直接引用低烧录倍速2X的最佳烧录功率，必须利用低烧录倍速2X的OPC测试结果，根据以往光盘片的使用经验，推估其余高烧录倍速的烧录功率，再进行烧录数据。

然而，利用经验值推估的高烧录倍速的烧录功率变异性太大，导致光盘片不易维持稳定的烧录品质。虽然，另有背景技术中国台湾公告第I27083号专利案，利用低烧录倍速2X的OPC测试结果，直接进行烧录数据，并边烧录边监控品质参数，通过经验值补偿烧录功率达到目标品质参数，因无法掌握正确各高烧录倍速的烧录功率及补偿值，品质参数无法快速收敛至目标值。也有背景技术中国台湾公开第200917233号专利案，在各烧录倍速进行实际烧录测试，但需在每一高烧录倍速区空出测试空间，将减少光盘片的储存容量，且需准备及传输各高倍速的测试数据与模式，中断正常数据烧录，增长烧录时间，影响烧录效率。因此，现有光盘机的烧录方法，在高低烧录倍速烧录功率的调整上，仍有问题亟待解决。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光盘机烧录方法，通过比对各烧录倍速烧录策略的能量面积，与实测预定烧录倍速能量面积的比例，由低烧录倍速2X的OPC测试结果取得各烧录倍速烧录功率，以维持稳定的烧录品质。

本发明另一目的在于提供一种光盘机烧录方法，利用利用烧录策略中各烧录倍速部分常用能量面积的比例，以快速获得各烧录倍速接近的烧录功率。

本发明再一目的在于提供一种光盘机烧录方法，利用烧录策略中各烧录倍速能量面积的比例，获得各高烧录倍速品质参数对烧录功率的变化率，补偿烧录功率，快速收敛至目标值品质参数，以提高烧录效率。

为了达到前述发明的目的，本发明的光盘机烧录方法，首先接收烧录光盘片的指令；对最低烧录倍速的预定烧录倍速进行OPC测试，由预定烧录倍速的目标品质参数及品质参数对烧录功率的关系，获得预定烧录倍速的烧录功率；计算各烧录倍速所有或常用部分的烧录策略的能量面积比例；以各烧录倍速的能量面积比例与预定烧录倍速的烧录功率的乘积，作为各烧录倍速的烧录功率。

本发明另一实施例的光盘机烧录方法，对仍有偏差的各烧录倍速烧录功率，在进行烧录时，通过自动烧录控制，由测试品质参数与目标品质参数的落差，根据预定烧录倍速的品质参数与烧录功率的变化率，依能量面积的比例倍数增加烧录功率差值，在各烧录倍速区补偿烧录功率。

附图说明

图1为背景光盘机的烧录方法的示意图；

图2为光盘片烧录记号的示意图；

图3为本发明不同烧录倍速记号能量面积变化的关系图；

图4为本发明第一实施例光盘机烧录方法OPC测试的示意图；

图5为本发明第一实施例光盘片烧录方法的流程图；

图6为本发明第二实施例光盘机烧录方法OPC测试的示意图；

图7为本发明第二实施例补偿烧录功率的示意图；

图8为本发明第一实施例光盘片烧录方法的流程图。