[发明专利]一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法无效

专利信息
申请号: 201010163774.8 申请日: 2010-05-06
公开(公告)号: CN101813671A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 符丰 申请(专利权)人: 符丰
主分类号: G01N29/30 分类号: G01N29/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 四川省成都市成华区*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 超声波 探伤 仪表 波及 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法,包括一超声波探伤仪,其通过探头发射超声波进行工件探伤,其探测得到的工件缺陷距离为实际距离和校准距离之和,其特征在于依次包括以下步骤:

1)准备一用于探头校准的标准试块,以及一用于超声波探伤仪的表面波或爬波探头;

2)使用探头在试块上来回移动,直到超声波探伤仪上显示表面波或爬波在试块缺陷处产生最高反射波,得到探头内超声波发出端至缺陷处的距离S;

3)测量探头最前端至缺陷处的距离L;

4)S减去L即得到用于校准超声波探伤仪的校准距离。

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