[发明专利]特征物质的检测系统及方法

权利要求书

1.特征物质的检测方法，其特征在于，包括：

步骤1，对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据，并确定被测样品的感兴趣区域；

步骤2，对于同一个m/z所表征的物质，分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度，依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质；

感兴趣区域内总离子强度为感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和；

感兴趣区域外总离子强度为感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和；

感兴趣区域内平均强度表示感兴趣区域内总离子强度除以感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数；

感兴趣区域外平均强度表示感兴趣区域外总离子强度除以感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数。

2.如权利要求1所述的特征物质的检测方法，其特征在于，步骤1中确定感兴趣区域具体包括：在质谱分析不破坏被测样品形貌的情况下，根据对质谱分析后的被测样品的光学成像确定感兴趣区域；或者在质谱分析破坏被测样品形貌的情况下，根据对质谱分析前的被测样品的光学成像确定感兴趣区域；或者在没有成像设备的情况下，按照预定的条件从质谱数据中确定感兴趣区域。

3.如权利要求2所述的特征物质的检测方法，其特征在于，在质谱分析不破坏被测样品形貌的情况下，对被测样品进行质谱分析后进行光学成像，或者边进行质谱分析边进行光学成像；在边进行质谱分析边进行光学成像时，每次光学成像的条件保持一致。

4.如权利要求2或3所述的特征物质的检测方法，其特征在于，光学成像的分辨率不小于最小样品点的半径。

5.如权利要求3所述的特征物质的检测方法，其特征在于，在边进行质谱分析边进行光学成像时，利用每次光学成像得到的图像进行合成得到最终的图像，用来确定感兴趣区域。

6.如权利要求3所述的特征物质的检测方法，其特征在于，步骤2中，还计算质谱的噪声强度，将质谱峰信号强度不小于2倍于噪声强度的信号视为有意义的信号，并提取有意义信号的质谱峰信号强度。

7.如权利要求3所述的特征物质的检测方法，其特征在于，预置的规则为感兴趣区域内平均强度大于或等于感兴趣区域外的平均离子强度的2倍，并且该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点数不少于该m/z所表征的物质感兴趣区域外存在质谱峰的样品点数，则该m/z所表征的物质为特征物质；该m/z所表征的物质在ROI内存在质谱峰的样品点的空间聚合度优于在ROI外存在质谱峰的样品点的空间聚合度，则该m/z所表征的物质为特征物质；或者感兴趣区域内平均强度大于或等于感兴趣区域外的平均离子强度的2倍，并且该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点数不少于该m/z所表征的物质感兴趣区域外存在质谱峰的样品点数，同时该m/z所表征的物质在ROI内存在质谱峰的样品点的空间聚合度优于在ROI外存在质谱峰的样品点的空间聚合度。

8.如权利要求1所述的特征物质的检测方法，其特征在于，感兴趣区域的总面积不大于被测样品总面积的1/2，并且不小于4个样品点所在区域的面积。

9.如权利要求1所述的特征物质的检测方法，其特征在于，感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度用该m/z所表征的物质对应像素个数占感兴趣区域内总像素个数的百分比或该m/z所表征的物质对应像素点的聚焦度表示。