[发明专利]光拾取器装置和使用其的光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光拾取器装置、光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如存在专利文献1。在本公报中记载有“能够提供一种光拾取器装置，该光拾取器装置在一面中具有多个记录层的多层光盘的记录和/或再现时，能够抑制由邻接层引起的干涉光，能够改善由DPP检测的追踪错误信号的摆动”，作为解决方法，记载有“具有一种光学元件，该光学元件在至少在一个面上具有多个记录层的光信息保存介质中使用时，抑制光检测器接受因邻接层引起的干涉光。由此，能够抑制光检测器，特别是光检测器的第一和第二子光检测器接收因邻接层引起的干涉光”。

专利文献1日本专利特开2005-203090号公报

发明内容

近年来，存在如下问题：在记录层形成为多层的光盘的记录或再现时，在不是再现的对象的记录层反射的无用光束向光检测器面上入射从而成为干扰成分，使光检测器的检测信号变动。特别地，在记录层形成为多层为三层以上的光盘中，无用光束在多个层中产生，因此干扰成分增加从而上述检测信号的变动显著增大。

本发明的目的在于，提供一种光拾取器装置和光盘装置，降低由无用光束引起的干扰成分向检测信号的漏入，能够得到稳定且高品质的记录或再现品质。

上述目的，作为该一个例子能够由本发明的技术范围记载的发明实现。

本发明的第一方面光拾取器装置，其特征在于，包括：激光光源；光束分割元件，将从该激光光源出射的激光光束分割为主光束和副光束；物镜，配置在能够向规定的方向移动的致动器内，使所述主光束和副光束聚光在光盘上；衍射光学元件，具有使由光盘反射的所述主光束和副光束的一部分衍射的区域；像散发生单元，对由光盘反射的所述主光束和副光束赋予像散；和光检测器，具有接受由光盘反射的所述主光束的主光束用受光面以及接受由光盘反射的所述副光束的副光束用受光面，其中，在所述衍射光学元件设置有带状的衍射区域，并且所述衍射区域的与光盘半径方向相当的方向的宽度，相对于所述衍射光学元件周边部，在中央部狭窄。

根据本发明，能够提供一种光拾取器装置和光盘装置，该光拾取器装置能够降低向检测信号的无用光束引起的干扰的影响，并且能够进行高品质的检测。

附图说明

图1是表示本发明的光拾取器装置的光学系结构的概略图。

图2是表示光拾取器的现有例和信号运算方法的概略图。

图3是表示入射到两层光盘的光束的光路的概略图。

图4(a)是表示衍射光学元件的衍射区域形状的现有例的概略图，(b)是两层盘中的(a)的衍射光学元件搭载时的光检测器上的信号光束和无用光束的光强度分布的概略图。

图5是表示入射到多层化的光盘的光束的光路的概略图。

图6是表示在多层盘中的图4(a)的衍射光学元件搭载时的光检测器上的信号光束和无用光束的光强度分布的概略图。

图7(a)是表示作为第一实施例的主要部的衍射光学元件的衍射区域形状的概略图，(b)是表示在(a)中记载的衍射光学元件中一起记入PP信号区域的概略图，(c)是表示两层盘中的(a)的衍射光学元件搭载时的光检测器上的信号光束和无用光束的光强度分布的概略图。

图8是表示衍射光学元件的衍射区域形状的代表例的概略图。

图9是在图8(a)～(d)中记载的衍射光学元件中一起记载有PP信号区域的概略图。

图10是表示作为第一实施例的主要部的光检测器和信号运算方法的概略图。

图11是表示作为第二实施例的主要部的光检测器和信号运算方法的概略图。

图12是表示作为第二实施方式的主要部的光检测器的变形例和信号运算方法的概略图。

图13是表示作为第三实施例的主要部的光检测器和信号运算方法的概略图。

图14是表示作为第三实施例的主要部的光检测器的变形例和信号运算方法的概略图。

图15是表示搭载有从第一到第三的实施例的光拾取器装置的光盘装置的一个例子的概略图。

符号说明

1激光光束

2衍射光栅

3主光束

4副光束

5副光束

6偏光分束器

7步进马达

8准直透镜

9衍射光学元件

101/4波长板

11物镜

12光盘

13像散发生单元

14光检测器

50致动器

44PP信息区域

51专用受光面

54遮光带或不感光带

55遮光带或不感光带

91激光点亮电路

92光拾取器