[发明专利]显示驱动器和测试该显示驱动器的方法无效

专利信息
申请号: 201010167865.9 申请日: 2010-04-22
公开(公告)号: CN101901573A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 田付敏一 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 孙志湧;穆德骏
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示 驱动器 测试 方法
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请基于并且要求2009年4月22日提交的日本专利申请No.2009-103602的优先权,其内容通过引用整体合并在此。

技术领域

本发明涉及显示驱动器和测试该显示驱动器的方法。

背景技术

近年来,在显示面板驱动器(显示驱动器)中已经要求诸如小幅度输入操作和高频率数据传输这样的功能。根据此,由于显示驱动器的数据输入缺陷或者数据传输缺陷在客户面板中出现诸如显示缺陷这样的各种问题。为了解决这些问题,已经执行操作测试以检查数据是否被正确地输入到显示驱动器。然而,在没有包括测试电路的显示驱动器中,基于灰阶电压需要执行操作测试,灰阶电压是来自于显示驱动器的输出的结果。更加具体地,对于当显示驱动器的输入数据(灰阶数据)是六位时64个灰阶,和当输入数据是八位时256个灰阶的灰阶电压来说需要精确地执行操作测试。为了执行多灰阶和多输出显示驱动器的操作测试,需要大尺寸的昂贵的测试器。因此,已经强烈需要能够使用不昂贵的测试器高速地检测数据输入缺陷等等的技术。

图8示出在日本未经审查的专利申请公开No.10-240194中公布的显示驱动器的测试电路。图8中所示的电路包括存储器电路111、121、131;运算电路112、122、132;驱动电路113、123、133;控制电路140;地址电路150;正逻辑与电路(AND电路)151;以及负逻辑与电路(OR电路)152。存储器电路111、121、131具有相同的电路构造。存储器电路根据从地址电路150提供的信号顺序地存储从灰阶数据输入端子101输入的灰阶数据。存储器电路中的每一个通过地址电路150根据从控制电路140提供的控制信号同时地输出被存储在其中的灰阶数据。运算电路112、122、132具有相同的电路构造。从存储器电路111、存储器电路121、以及存储器电路131输出的信号分别被输入到运算电路112、122、132的每一个。此外,从控制电路140输出的控制信号被输入到运算电路中的每一个。每一个运算电路执行事先被设定的运算并且输出运算结果。驱动器电路113、123、133具有相同的电路构造。从运算电路112、122、132输出的信号分别被输入到驱动电路113、123、133。驱动电路中的每一个输出被放大到适合驱动液晶装置的电压或者电流的信号。

如图8中所示,来自于驱动电路113、123、以及133的输出信号被输入到正逻辑与电路151。正逻辑与电路151将正逻辑的逻辑与运算的结果输出到输出端子105。同时,来自于驱动电路113、123、以及133的输出信号被输入到负逻辑与电路152。负逻辑与电路152将负逻辑的逻辑与运算的结果输出到输出端子106。通过在测试模式下观察输出端子105和106的电压,能够判断基于灰阶数据(锁存的数据)的输出结果是否正确。

图9示出用于描述本发明的包括测试输出端子的显示驱动器的框图。图9中所示的电路包括移位寄存器312、灰阶数据输入电路313、灰阶数据寄存器314、灰阶数据锁存电路315、测试电路316、电平移位器317、灰阶电压选择器318、以及输出放大器319。为了方便起见,时钟输入301、起始脉冲输302、起始脉冲输出303、灰阶数据输入304、锁存脉冲输入305、测试输入306、测试输出307、基准电源输入308、灰阶电压输出309、高电势侧电源310、以及低电势侧电源311均示出端子名称和信号名称。此外,图9中所示的电路示出其中灰阶数据输入信号304是六位(64个灰阶)的情况。

在本示例中,通过六级寄存器来形成移位寄存器312。起始脉冲输入信号302和时钟输入信号301被提供给移位寄存器312。通过与时钟输入信号301同步地顺序对起始脉冲输入信号302进行移位来形成移位脉冲信号。

此外,在图9中所示的示例中,显示驱动器包括六个灰阶数据寄存器314。六位灰阶数据输入信号304通过灰阶数据输入电路313被并行地提供给每个灰阶数据寄存器314。基于从移位寄存器312提供的移位脉冲信号顺序地选择灰阶数据寄存器314,使得存储灰阶数据。

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