[发明专利]一种基于ARM的键盘电阻检测系统及方法

权利要求书

1.一种基于ARM的键盘电阻检测系统，由硬件部分和软件部分组成，硬件部分包括待测键盘(1)和ARM芯片(8)，ARM芯片(8)的输出经USB接口(9)连接PC机(11)，其特征是：待测键盘(1)连接阵列开关(2)，阵列开关(2)分别连接恒流源(3)、电压比较器(5)、放大器(6)和ARM芯片(8)；放大器(6)通过A/D转换器(7)连接ARM芯片(8)，电压比较器(5)连接ARM芯片(8)；基准电压源(4)分别连接恒流源(3)、电压比较器(5)、A/D转换器(7)以及电源(10)，PC机(11)提供的电源经USB接口(9)连接电源(10)；所述阵列开关(2)的每一列开关由KI开关和KV开关组成，KI开关与恒流源(3)相连接，KV开关分别连接放大器(6)和电压比较器(5)。

2.一种基于ARM的键盘电阻检测方法，其特征是包括如下步骤：

1)恒流源(3)提供恒定电流给阵列开关(2)，ARM芯片(8)控制阵列开关(2)将电流注入待测键盘(1)中要测试的按键，通过阵列开关(2)对待测键盘(1)进行恒流扫描，电压比较器(5)对恒流源(3)的输出进行判断，若输出为开环则待测键盘(1)有按键按下；按键的电压差通过放大器(6)放大信号后由A/D转换器(7)转换后发送给ARM芯片(8)进行运算处理，ARM芯片(8)检测到有按键按下后启动A/D转换器(7)；

2)采用四线法电阻测试方法检测按键接触电阻两端电压，由ARM芯片(8))运算后得出电阻值并将该电阻值和键坐标值进行编码后通过USB接口(9)将信息发送至PC机(11)；

3)由软件部分创建一个虚拟键盘，该虚拟键盘接收到所述信息并提取该信息中包含的键坐标值的行列位置，通过映射得到虚拟键盘的位置信息；

4)虚拟键盘将待测键盘(1)的每个按键测试结果显示，根据按键的电阻值大小和键名是否一致判断按键是否合格。

3.根据权利要求2所述的一种基于ARM的键盘电阻检测方法，其特征是：步骤3)所述创建虚拟键盘包括虚拟键编辑和测试规则制定，创建后的虚拟键盘信息存入于虚拟键盘数据库中，通过虚拟键编辑添加和删除虚拟按键、创建新虚拟键盘和对已有虚拟键盘修改。

4.根据权利要求2所述的一种基于ARM的键盘电阻检测方法，其特征是：步骤4)判断按键是否合格的方法包括：若电阻值大于要求范围最大值且多次测量的电阻值相差较大则判断该按键接触不良，若电阻值多次测量都大于要求范围最大值则判断该按键断路，若电阻值小于要求范围最小值则判断该按键短路。