[发明专利]铜合金板及其制造方法有效
申请号: | 201010169903.4 | 申请日: | 2010-04-27 |
公开(公告)号: | CN101871059A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 高维林;青山智胤;须田久;成枝宏人;菅原章;小野寺晓史 | 申请(专利权)人: | 同和金属技术有限公司 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06;C22F1/08;B21B1/30 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 韦东;周承泽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铜合金 及其 制造 方法 | ||
1.一种铜合金板,其化学组成为包含0.7-4.0重量%的镍、0.2-1.5重量%的硅、余量的铜和不可避免的杂质,
其中,所述铜合金板具有满足I{200}/I0{200}≥1.0的晶体取向,假设在铜合金板表面上在{200}晶面的X射线衍射强度为I{200},纯铜标准粉末的{200}晶面上的X射线衍射强度为I0{200}。
2.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的晶体取向满足I{200}/I{422}≥15,假设铜合金板表面上在{422}晶面的X射线衍射强度为I{422}。
3.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的平均晶粒尺寸D为6-60微米范围,所述平均晶粒尺寸D是在不包括孪晶晶界,同时区分铜合金板表面上的晶粒边界和孪晶晶界下通过根据JIS H0501的截面方法获得的。
4.如权利要求3所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的平均孪晶密度NG=(D-DT)/DT,所述NG不小于0.5,所述平均孪晶密度由平均晶粒尺寸D和平均晶粒尺寸DT获得,所述平均晶粒尺寸DT是在包括孪晶晶界,同时不区分铜合金板表面上的晶粒边界和孪晶晶界下是通过根据JIS H0501的截面方法获得的。
5.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的化学组成进一步包含一种或多种选自以下的元素:0.1-1.2重量%的锡、不大于2.0重量%的锌、不大于1.0重量%的镁、不大于2.0重量%的钴、不大于1.0重量%的铁。
6.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的化学组成进一步包含一种或多种选自以下的元素:铬、硼、磷、锆、钛、锰、银、铍、混合稀土合金,这些元素的总量不大于3重量%。
7.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的抗张强度不小于700兆帕。
8.如权利要求1所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的抗张强度不小于800兆帕,所述晶体取向满足I{200}/I{422}≥50。
9.一种铜合金板,其化学组成为包含0.7-4.0重量%的镍、0.2-1.5重量%的硅、余量的铜和不可避免的杂质的化学组成,
其中,所述铜合金板的平均晶粒尺寸D在6-60微米范围,所述平均晶粒尺寸是在不包括孪晶晶界,同时区分铜合金板表面上的晶粒边界和孪晶晶界下通过根据JIS H0501的截面方法获得的,和
其中,所述铜合金板的平均孪晶密度NG=(D-DT)/DT,所述NG不小于0.5,所述平均孪晶密度由平均晶粒尺寸D和平均晶粒尺寸DT获得,所述平均晶粒尺寸DT是在包括孪晶晶界,同时不区分铜合金板表面上晶粒边界和孪晶晶界下通过根据JISH0501的截面方法获得的。
10.如权利要求9所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的化学组成进一步包含一种或多种选自以下的元素:0.1-1.2重量%的锡、不大于2.0重量%的锌、不大于1.0重量%的镁、不大于2.0重量%的钴、不大于1.0重量%的铁。
11.如权利要求9所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的化学组成进一步包含一种或多种选自以下的元素:铬、硼、磷、锆、钛、锰、银、铍、混合稀土合金,这些元素的总量不大于3重量%。
12.如权利要求9所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的抗张强度不小于700兆帕。
13.如权利要求9所述的铜合金板,其特征在于,所述铜合金板的抗张强度不小于800兆帕,所述晶体取向满足I{200}/I{422}≥50。
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