[发明专利]氮化物半导体光学元件及其制造方法无效
申请号: | 201010170035.1 | 申请日: | 2010-04-27 |
公开(公告)号: | CN101931161A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 福田和久 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01S5/028 | 分类号: | H01S5/028 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈海涛;樊卫民 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 光学 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种氮化物半导体光学元件,包含:
衬底;
有源层,其由含有Ga作为构成元素的III族氮化物半导体构成,且设置在所述衬底上;
第一保护膜,其至少设置在所述有源层的发光端面上;和
第二保护膜,其设置在所述第一保护膜上,
所述第一保护膜与构成所述发光端面的半导体接触,以及
所述第一保护膜的与所述半导体接触的部分由具有金红石结构的TiO2膜构成。
2.如权利要求1所述的氮化物半导体光学元件,
其中在所述第一保护膜中,从所述半导体观察,依次设置有所述具有金红石结构的TiO2膜和缓冲膜。
3.如权利要求1所述的氮化物半导体光学元件,
其中设置有所述第一保护膜,使得缓冲膜保持在其两侧的所述具有金红石结构的TiO2膜之间,以及
所述具有金红石结构的TiO2膜被分别设置,使得一部分与所述半导体接触,一部分与所述第二保护膜接触。
4.如权利要求2所述的氮化物半导体光学元件,
其中所述缓冲膜含有无定形TiO2膜。
5.如权利要求1所述的氮化物半导体光学元件,
其中所述第二保护膜的折射率比所述第一保护膜小。
6.如权利要求1所述的氮化物半导体光学元件,
其中所述第二保护膜含有Al2O3。
7.一种制造氮化物半导体光学元件的方法,包括:
在衬底上形成具有有源层的堆叠结构,所述有源层由含有Ga作为构成元素的III族氮化物半导体构成;以及
至少在所述有源层的发光端面上设置第一保护膜和第二保护膜,
设置所述第一保护膜,使得其与构成所述发光端面的半导体接触,以及
所述第一保护膜的与所述半导体接触的部分由具有金红石结构的TiO2膜构成。
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