[发明专利]能够检测光纤的被保持姿势的光学连接器检测设备

权利要求书

1.一种检测光学连接器的光学连接器检测设备，所述光学连接器具有沿轴向穿过并保持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分，所述设备包括：

光学连接器保持件，所述光学连接器保持件适于保持所述光学连接器；

光源，所述光源适于发射检测光；以及

摄像装置，所述摄像装置设置在轴向上的所述光学连接器的前面，并适于捡取使辐射到由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器在所述轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔部分而获得的透射光束的图像，以及捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像，

其中，所述光学连接器检测设备根据由所述摄像装置产生的摄像结果检测所述光学连接器中的光纤的被保持姿势；其特征在于，

所述光源沿横交于所述光学连接器的所述轴向的方向设置；以及

所述光学连接器保持件包括检测光反射部分，所述检测光反射部分将来自所述光源的检测光线偏转并反射到所述光学连接器的所述轴向，使得检测光进入所述光学连接器的所述基准孔部分。

2.根据权利要求1所述的光学连接器检测设备，进一步包括第二摄像装置，所述第二摄像装置沿正交于由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器的所述轴向的方向设置，并适于捡取从由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器的前端突出的光纤的侧面的图像，

其中，所述设备根据作为所述光学连接器中的光纤的被保持姿势的因素的由所述第二摄像装置产生的摄像结果，进一步检测从所述光学连接器的所述前端突出的光纤的突出量。

3.一种检测光学连接器的光学连接器检测方法，所述光学连接器具有沿轴向穿过并保持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分，所述方法包括以下步骤：

保持所述光学连接器；

发射检测光；

将检测光辐射到保持的所述光学连接器在所述轴向上的后端；以及

捡取使辐射到所述光学连接器在所述轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔部分而获得的透射光束的图像，并捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像；

其中，所述方法根据透射光束和由所述光纤保持部分保持的光纤的所述端面的摄像结果检测所述光学连接器中的光纤的被保持姿势；其特征在于，

所述检测光发射步骤在横交于所述光学连接器的所述轴向的方向上发射检测光；以及

所述检测光辐射步骤在将检测光辐射到所述光学连接器在所述轴向上的后端之前向所述光学连接器的所述轴向偏转并反射检测光，使得检测光进入所述光学连接器的所述基准孔部分。

4.根据权利要求3所述的光学连接器检测方法，进一步包括以下步骤：

捡取从保持的所述光学连接器的前端突出的光纤的侧面的图像；

其中，所述方法根据作为所述光学连接器中的光纤的被保持姿势的因素的从所述光学连接器的前端突出的光纤的所述侧面的摄像结果作为，进一步检测从所述光学连接器的前端突出的光纤的突出量。