[发明专利]光纤耦合连接器之制造方法及其盲孔底面粗糙度测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光纤耦合连接器之制造方法及其盲孔底面粗糙度之测量方法。

背景技术

光纤传输作为新一代的传输方式，其具有高频宽、低讯号损失、质轻等特性。而要充分发挥光纤传输的优势，就必须要使光纤在传输过程中保持低的光能损耗。目前，在光纤传输中需要用到光纤耦合连接器，而由光纤耦合连接器所引起的光能损耗在总的光能损耗中占有很大的比例。

光纤耦合连接器上一般都设置有盲孔以及透镜，该盲孔用来收容光纤，该透镜位于该盲孔的底端与该光纤光学耦合。光纤所传输的光线穿过该盲孔的底面而到达透镜，因此盲孔底面的粗糙程度对光纤的光能损耗有很大的影响。

目前射出成型是制作光纤耦合连接器所常用的方式，为了保证生产出来的光纤耦合连接器上各光学面的粗糙度符合要求，一般都是通过控制模具成型面的粗糙度来进行控制，然而由于在注射成型过程中有很多不可控的因素，从而导致成型后的光纤耦合连接器各光学面的粗糙度与模具成型面的粗糙度有差异，这时就需要单独对成型后的光纤耦合连接器的各光学面重新进行粗糙度测量，以确保射出产品各光学面的粗糙度符合要求，以此来降低在光纤传输中由光学面的粗糙度过大而造成的光能损失。

但是，在光纤耦合连接器中用来收容光纤的盲孔大多都是又细又长，在对成型后的光纤耦合连接器的盲孔底面进行粗糙度测量时，难度很大。若采用接触式测量法直接对盲孔底面的表面形态进行测量，由于盲孔较深，在测量过程中很有可能对盲孔底面造成刮伤；若采用非接触式测量方法进行测量时，由于非接触式测量法是利用散射光强度或者干涉波纹讯号来得到表面信息，若从光纤插入端对盲孔底面进行测量时，由于盲孔的孔径以及孔深的关系，将无法使用高倍率物镜进行对焦，并且接收到的干涉讯号大部分为盲孔内壁或者其它区域所引起的，可信度不高，若从透镜端进行测量，透镜的聚光效果对测量值的可信度影响也很大。

发明内容

有鉴于此，提供一种光纤耦合连接器之制造方法及其盲孔底面粗糙度之测量方法实为必要。

一种光纤耦合连接器之制造方法，其中该光纤耦合连接器具有盲孔部以及与该盲孔部相连的光学部，该盲孔部包括盲孔用于收容光纤，该光学部具有一光学面，该光学面位于该盲孔的底部，在该光学面上设置有与该光纤光学耦合的透镜，其中，该光纤耦合连接器之制造方法包括如下步骤：采用一模具成型一预制光纤耦合连接器，该预制光纤耦合连接器包括一预制盲孔及位于该预制盲孔的底端的预制光学部，该预制光学部的端部具有一与该预制盲孔相对的光学平面，该模具具有一用于成型该预制盲孔的盲孔部成型模块及一用于成型该预制光学部的预制成型模块；采用一非接触式光学测量仪，发出检测光经由该预制光纤耦合连接器的光学平面一侧进入该预制盲孔以测量对该预制盲孔的底面粗糙度；对该非接触式光学测量仪的测量结果进行分析，判断该预制盲孔的底面粗糙度是否满足预定要求，若该预制盲孔的底面粗糙度不满足预定要求则调整该模具并使用调整后的模具重复进行成型步骤以及预制盲孔底面粗糙度测量步骤，直到预制盲孔底面粗糙度满足该预定要求为止；采用一用于成型该光纤耦合连接器的光学部的成品成型模块替换该预制成型模块，并成型该光纤耦合连接器。

一种光纤耦合连接器盲孔底面粗糙度之测量方法，其包括如下步骤：提供一具有平面光学部之光纤耦合连接器，该光纤耦合连接器具有用于收容光纤的盲孔；使用非接触式测量法由该光纤耦合连接器之平面光学部一侧来测量该盲孔底面之粗糙度。

与现有技术相比，本发明所提供的该光纤耦合连接器的制造方法在制造过程中对光纤耦合连接器的盲孔底面粗糙度进行测量监控，根据测量结果对模具进行实时修正，从而保证了射出成型后的光纤耦合连接器具有良好的盲孔粗糙度性能，以此大大降低了由于盲孔粗糙度所造成的光能损耗。

同时，本发明所提供的该光纤耦合连接器盲孔底面粗糙度之测量方法通过测量具有平面光学部之光纤耦合连接器之盲孔底面粗糙度来确定具有曲面光学部之光纤耦合连接器盲孔底面的粗糙程度，从而降低了光纤耦合连接器中曲面光学部上的透镜对测量光线的影响程度，大大提高对光纤耦合连接器成型后的产品进行批量抽检其盲孔底面的粗糙度的测量精度以及效率，还可以对光纤耦合连接器的注射成型所使用的成型模具的磨损程度进行有效监控。

附图说明

图1是本发明实施例所提供的光纤耦合连接器结构示意图。

图2是本发明实施例所提供的模具结构示意图，该模具既能够成型具有平面光学部的光纤耦合连接器也能够成型具有曲面光学部的光纤耦合连接器。

图3是测量图2所示的模具所成型的具有平面光学部的光纤耦合连接器盲孔底面粗糙度的示意图。