[发明专利]10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器及其制作方法无效
申请号: | 201010171382.6 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN101847672A | 公开(公告)日: | 2010-09-29 |
发明(设计)人: | 刘小宇;马文全;张艳华;种明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/101 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 10 14 微米 同时 响应 量子 红外探测器 及其 制作方法 | ||
1.一种10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,包括如下步骤:
(A)将一衬底烘干、脱氧,以其作为量子阱红外探测器的承载体;
(B)利用外延设备在衬底上依次生长N型掺杂的下欧姆接触层、量子阱层,以及N型掺杂的上欧姆接触层;
(C)采用光刻及湿法刻蚀技术,将量子阱层及上欧姆接触层的一侧刻蚀,使下欧姆接触层的一侧形成一台面;
(D)采用机械抛光的方法,将衬底及下欧姆接触层远离台面的一侧抛成45°抛角,形成入射光窗口;
(E)烘干;
(F)在上欧姆接触层的表面压焊第一n型电极;
(F)在下欧姆接触层一侧形成的台面上压焊第二n型电极。
2.根据权利要求1所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中衬底是在400℃下烘干,上、下欧姆接触层及量子阱层均是在600℃下生长。
3.根据权利要求1所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中衬底为GaAs半绝缘衬底。
4.根据权利要求1所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中上、下欧姆接触层的厚度分别为0.5微米,以硅作为n型掺杂源,掺杂浓度5.0×1017cm-3。
5.根据权利要求1所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中量子阱层为一个量子阱周期结构,周期数为50,该量子阱层的材料为GaAs/AlxGa1-xAs,该GaAs为势阱结构,该AlxGa1-xAs为势垒结构,该50个周期的量子阱层的最上层再覆盖一层AlxGa1-xAs层。
6.根据权利要求5所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中量子阱层的量子阱周期结构中,作为势阱的GaAs层厚度为7纳米,以硅做n型掺杂源,掺杂浓度为3.0×1017cm-3。
7.根据权利要求5所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中量子阱层的量子阱周期结构中,作为势垒的AlxGa1-xAs层的铝组分x选用0.14,厚度为60纳米。
8.根据权利要求4所述的10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,其中第一、第二n型电极的材料为Au/Ge/Ni。
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