[发明专利]气态单质汞浓度的连续监测装置和方法无效

专利信息
申请号: 201010171418.0 申请日: 2010-05-13
公开(公告)号: CN101819140A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 娄秀涛;王鹏;王华山;张云刚;陈斌;瑞小川;张治国 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33;G01N21/01
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 气态 单质 浓度 连续 监测 装置 方法
【权利要求书】:

1.气态单质汞浓度的连续监测装置,其特征在于它由汞元素灯(1)、磁铁(2)、准直透镜 (3)、样品池(4)、分光镜(5)、参考池(6)、第一凸透镜(7)、第一探测器(8)、第二凸透镜(9)、 第二探测器(10)、数据采集分析器(11)组成,汞元素灯(1)置于磁铁(2)的磁场中,并且设置在 准直透镜(3)的焦点处,第一探测器(8)的探测面与第一凸透镜(7)的焦平面重合,第二探测器 (10)的探测面与第二凸透镜(9)的焦平面重合,汞元素灯(1)的输出光入射至准直透镜(3),经 准直透镜(3)透射得到平行光,所述平行光经过样品池(4)后入射至分光镜(5),所述平行光经 分光镜(5)分成反射光和透射光,其中透射光经过参考池(6)后入射至第一凸透镜(7),再经第 一凸透镜(7)聚焦至第一探测器(8),反射光入射至第二凸透镜(9),再经第二凸透镜(9)聚焦至 第二探测器(10),所述第一探测器(8)的输出端和第二探测器(10)的输出端分别连接数据采集 分析器(11)的两个接入端,参考池(6)中的介质为饱和浓度的单质汞气体。

2.根据权利要求1所述的气态单质汞浓度的连续监测装置,其特征在于分光镜(5)为半 反射半透射的分束镜。

3.根据权利要求1所述的气态单质汞浓度的连续监测装置,其特征在于参考池(6)中单 质汞气体的每立方米饱和浓度为0.2~20mg/m3

4.根据权利要求1所述的气态单质汞浓度的连续监测装置,其特征在于磁铁(2)所产生 的磁感应强度为1~3T。

5.利用权利要求1所述的气态单质汞浓度的连续监测装置的连续监测方法,其特征在 于具体过程如下:

步骤一、将样品池(4)充满待测气态单质汞介质,数据采集分析器(11)测量第一探测器(8) 探测的透射光强IR和第二探测器(10)探测的反射光强IS

步骤二、根据如下公式计算步骤一所述的透射光和反射光的光强对比度M;

M=(IR-AIS)(IR+AIS)]]>

其中,A是样品池(4)中仅含有空气时光强对比度M为零所对应的常数;

步骤三、将步骤二得到的光强对比度M与光强对比度M与气态单质汞介质浓度的对应 关系曲线对照,得到待测气态单质汞介质的浓度。

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