[发明专利]一种快速X射线荧光CT方法有效
| 申请号： | 201010171983.7 | 申请日： | 2010-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN101862200A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 邓彪;杨群;谢红兰;杜国浩;肖体乔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 快速 射线 荧光 ct 方法 | ||
1.一种快速X射线荧光CT方法，包括：
(1)将单色光照射到样品上，所述样品被平移和转动，同时被激发出特征X射线荧光；
(2)利用荧光探测器采集所述X射线荧光，得到X射线荧光能谱；
(3)解析所述X射线荧光能谱，得到X射线荧光CT的投影数据；
(4)利用X射线强度探测器采集所述样品的透射CT的投影数据；
(5)根据所述X射线荧光CT的投影数据和所述透射CT的投影数据，重构出所述样品的元素分布图像；
其特征在于，所述的单色光的光斑直径大于所述样品的宽度；所述的荧光探测器是加装铅准直器的阵列荧光探测器。
2.如权利要求1所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述平移是将所述样品沿所述单色光的入射方向平移一次，所述平移的距离为所述铅准直器的壁厚。
3.如权利要求2所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述转动是将所述样品绕垂直于所述单色光的入射方向的轴每次旋转1°，直至在整个180°圆周上扫描一遍。
4.如权利要求1所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述的荧光探测器是64×64或32×32元阵列荧光探测器。
5.如权利要求1所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述的阵列荧光探测器采集垂直于所述单色光的入射方向的所述铅准直器区域内的所有X射线荧光。
6.如权利要求1所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述透射CT的投影数据进一步包括各荧光能量段的透射CT的投影数据，计算所述样品对荧光X射线的吸收系数，修正X射线自吸收。
7.如权利要求6所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述的修正X射线自吸收是沿进入铅准直器的线方向进行。
8.如权利要求1所述的快速X射线荧光CT方法，其特征在于，所述的元素分布图像的分辨率由所述铅准直器的水平开口决定。
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