[发明专利]一种具有椭圆门闩结构的前开式圆片盒有效
申请号: | 201010173448.5 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN102237289A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 邱铭乾;林志铭 | 申请(专利权)人: | 家登精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 梁爱荣 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 椭圆 门闩 结构 前开式圆片盒 | ||
技术领域
本发明关于一种前开式圆片盒,特别是关于一种配置于前开式圆片盒的门体内的门闩结构。
背景技术
半导体圆片由于需经过各种不同流程的处理且需配合制程设备,因此会被搬运到不同的工作站。为了方便圆片的搬运且避免受到外界的污染,常会利用一密封容器以供自动化设备输送。请参考图1所示,是现有技术的圆片盒示意图。此圆片盒是一种前开式圆片盒(Front Opening UnifiedPod,FOUP),具有一盒体10及一门体20,盒体10内部设有多个插槽11可水平容置多个圆片(未显示于图中),且在盒体10的一侧面具有一开口12可供圆片的载出及加载,而门体20具有一个外表面21及一个内表面22,门体20是通过内表面22与盒体10的开口12相结合,用以保护盒体10内部的多个圆片。此外,在门体20的外表面21上配置至少一个门闩开孔23,用以开启或是封闭前开式圆片盒。在上述前开式圆片盒中,由于半导体圆片水平地置于盒体10内部,因此,在前开式圆片盒搬运过程中需有一圆片限制件(wafer restraint),以避免圆片因震动而产生异位或往盒体10的开口12方向移动。
请参考图2所示,是一美国第6,736,268号公告专利所揭露的一种前开式圆片盒的门体示意图。如图2所示,门体20的内表面22配置有一凹陷区域24,此凹陷区域24是从内表面22的顶端221延伸到底端222且是在左右二个门闩结构230(于门体内部)之间,而在凹陷区域24中再进一步配置有圆片限制件模块,此圆片限制件模块由左右二个圆片限制件100所组成,而在每一个圆片限制件100上具有多个圆片接触头110,以利用此圆片接触头110顶持其相对的圆片,避免圆片在传送过程中因震动而异位或往盒体的开口方向移动。然而,上述圆片限制件模块设置于门体20内表面22的凹陷区域24之中,这使得圆片仅能贴平门体20其内表面22或仅能稍微落入凹陷区域24,无法有效地让圆片落入凹陷区域24以缩短前开式圆片盒前后径的尺寸。此外,圆片限制件模块与圆片摩擦所产生的微粒粉尘容易累积在凹陷区域24内,在清洁上需先把圆片限制件模块与门体20内表面22的凹陷区域24分离,如此反复的分离及组装,容易造成圆片限制件模块的松脱。
此外,于另一件美国第5,711,427号公告专利中揭露出前开式圆片盒的门体20中的门闩结构230示意图。如图3所示。门体20与盒体10的结合方式主要是在门体20中(即外表面21及内表面22之间)的两侧分别设置活动式插梢231,且在盒体10开口处的边缘附近设有插孔13(请参考图1)可与插梢231相对应,并利用设于门体20外表面21上的门闩开孔23(请参考图1)的转动,使插梢231与插孔13互相结合进而达到将门体20固定于盒体10的目的,其中利用门闩开孔23的转动来控制插梢231的往返活动是通过一个圆形的凸轮232即可达成。
而在半导体厂的实际操作中,前开式圆片盒的开启主要是通过一圆片装载机构,圆片装载机构至少具有一开启闩(Latch key),圆片装载机构利用此开启闩插入前开式圆片盒的门体20外表面21上的门闩开孔23,并转动凸轮232以带动活动式插梢231完成开启或是封闭前开式圆片盒。此外,根据SEMI所制定的各项标准当中,其中针对开启闩以及门闩开孔的大小订有一标准规格,然而依此规格所设计的前开式圆片盒,会使得开启闩与门闩开孔配合转动时,产生约9.44度的制动误差,因此当前开式圆片盒水平放置时,若开启闩与门闩开孔之间的误差大于约9.44度时,开启闩将无法转动门闩开孔以带动凸轮转动,而致使门体无法顺利开启。
另外,其它已揭露的前开式圆片盒的门体中的门闩结构的美国专利还有US5,915,562、US5,957,292、US6622883、US6902063等。这些门闩结构都是为了使门体与盒体接合时,达到气密的目的,其活动式插梢会在纵向方向上产生位移,以便通过活动式插梢将一弹性的气密件卡固,以期同时达到关闭前开式圆片盒以及气密的目的。然而,这些现有的门闩结构专利皆是由复杂的机械结构来组成,除了会增加故障率外,也会在操动的过程中,产生过多的机械摩擦,而造成圆片的污染;此外,使用活动式插梢的位移来卡固弹性气密件,其气密的效果欠佳,无法长时间保持气密。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造