[发明专利]触碰侦测方法及相关触控装置有效

专利信息
申请号: 201010178108.1 申请日: 2010-05-18
公开(公告)号: CN102253772A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 黄赫炜;陈俊宏;张志远 申请(专利权)人: 联咏科技股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 代理人: 刘云贵
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 侦测 方法 相关 装置
【权利要求书】:

1.一种用于一触控装置的触碰侦测方法,其特征在于该触控装置包含有一触控面板,该触碰侦测方法包含有:

检查一充电能力及一放电能力是否已设定,该充电能力及该放电能力是用以对该触控面板中一待测电容充放电;

于该充电能力及该放电能力已设定时,对该待测电容充放电,并且接收一计数值,该计数值相应于该待测电容上的电容量;

检查一基础计数值是否已设定,该基础计数值相应于该触控面板未被触碰时该待测电容的电容量;

于该基础计数值已设定时,计算该计数值与该基础计数值之间的一变化量,以根据该变化量判断该触控面板是否被触碰;

检查该计数值是否位于一预定范围内;以及

于该计数值不在该预定范围内时,进行一充放电能力设定程序,以更新该充电能力及该放电能力。

2.如权利要求1所述的触碰侦测方法,其特征在于该充放电能力设定程序包含有:

接收该计数值;

检查该计数值是否位于该预定范围内,以产生一检查结果;以及

以及根据该检查结果,调整该充电能力及该放电能力。

3.如权利要求2所述的触碰侦测方法,其特征在于根据该检查结果调整该充电能力及该放电能力的步骤包含有:

于该检查结果表示该计数值大于该预定范围的一上限值时,调降该充电能力。

4.如权利要求2所述的触碰侦测方法,其特征在于根据该检查结果调整该充电能力及该放电能力的步骤包含有:

于该检查结果表示该计数值大于该预定范围的一上限值时,调升该放电能力。

5.如权利要求2所述的触碰侦测方法,其特征在于根据该检查结果调整该充电能力及该放电能力的步骤包含有:

于该检查结果表示该计数值小于该预定范围的一下限值时,调升该充电能力。

6.如权利要求2所述的触碰侦测方法,其特征在于根据该检查结果调整该充电能力及该放电能力的步骤包含有:

于该检查结果表示该计数值小于该预定范围的一下限值时,调降该放电能力。

7.如权利要求1所述的触碰侦测方法,其特征在于该触碰侦测方法还包含有:

于更新该充电能力及该放电能力时,根据该计数值重新设定该基础计数值。

8.如权利要求7所述的触碰侦测方法,其特征在于根据该计数值重新设定该基础计数值的步骤,是将该计数值与该基础计数值进行加权运算,产生一运算结果,并将该运算结果设定为该基础计数值。

9.如权利要求1所述的触碰侦测方法,其特征在于该触碰侦测方法还包含有:

于该充电能力及该放电能力未设定时,以一预定充电能力及一预定放电能力对该待测电容充放电;

进行该充放电能力设定程序;以及

将进行该充放电能力设定程序时所接收的该计数值,设定为该基础计数值。

10.一种触控装置,其特征在于包含有:

一触控面板;

一电容量测量装置,耦接于该触控面板,用来对该触控面板中一待测电容充放电,以及根据该待测电容上的电压产生一计数值,该计数值相应于该待测电容的电容量;以及

一处理单元,耦接于该电容量测量装置,用来进行一触碰侦测程序,以判断该触控面板是否被触碰,于该触碰侦测程序中,该处理单元根据该计数值调整该电容量测量装置用以对该待测电容充放电的一充电能力及一放电能力。

11.如权利要求10所述的触控装置,其特征在于该处理单元所进行的该触碰侦测程序包含有:

检查该充电能力及该放电能力是否已设定;

于该充电能力及该放电能力已设定时,控制该电容量测量装置对该待测电容充放电,并且接收该计数值;

检查一基础计数值是否已设定,该基础计数值相应于该触控面板未被触碰时该待测电容的电容量;

于该基础计数值已设定时,计算该计数值与该基础计数值之间的一变化量,以根据该变化量判断该触控面板是否被触碰;

检查该计数值是否位于一预定范围内;以及

于该计数值不在该预定范围内时,进行一充放电能力设定程序,以更新该电容量测量装置的该充电能力及该放电能力。

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