[发明专利]X射线检查装置

权利要求书

1.一种X射线检查装置，用于输送检查对象物并检测出所述检查对象物内的异物，其包括：

X射线照射装置，其对所述检查对象物照射X射线；

闪烁器，在与所述输送方向交叉的方向上延伸设置、且将由所述X射线照射装置照射的X射线光变换为可见光；

槽缝部件，其形成有在与所述输送方向交叉的方向上延伸设置的槽缝，并且相对于所述闪烁器被设置在所述X射线照射一侧；和

光电二极管阵列，其沿着所述闪烁器的设置方向设置，检测出通过所述闪烁器进行光变换而得到的可见光，并将该可见光变换成电信号，

所述槽缝部件的槽缝宽度比所述闪烁器的宽度小，为所述光电二极管阵列的受光宽度的1/2以上。

2.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于，还包括：

照射宽度调整机构，其用于调整通过所述槽缝被照射在所述闪烁器上的照射宽度。

3.如权利要求1或2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述光电二极管阵列的受光宽度与所述槽缝部件的槽缝宽度的比在1∶1至1∶3的范围内。

4.如权利要求1或2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述闪烁器的厚度与所述槽缝部件的槽缝宽度的比在1∶1至1∶6的范围内。

5.如权利要求3所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述闪烁器的厚度与所述槽缝部件的槽缝宽度的比在1∶1至1∶6的范围内。