[发明专利]测试工具结构

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试工具结构，特别是一种其载板上开设有具有弯折段的滑轨的用于电路板测试的测试工具结构。

背景技术

随着电子产业的蓬勃发展，各式电子产品已被大量地应用于现代人的日常生活中，例如：计算机主机、网络服务器及工业计算机等。目前在这类电子产品的开发上，于制程最终产品时，制造商在主机组装出厂前，会对主机的电路板进行检测，以避免主机在日后被使用时发生错误。

传统在生产在线进行电路板的测试工作，将电路板置于一载具上，以人工手动的操作方式，将载具推入测试机台内。再利用测试机台的左右压把与上下压把，分次将电路板固定于测试位置上，再将电路板电性连接于测试端口，以进行测试工作。

然而，此一人工运载方式，实为缓慢且耗费人力，且于大量生产时，无法符合速度快且低成本的要求。因此，后续发展出一种在测试机台的载板上，额外架设有一导轨，使得载具可前进或后退于导轨中的测试工具。然，此种测试工具虽然解决了前述人工推送载具的问题，但其制造成本也相对提高。除此之外，由于导轨是架设于测试机台的载板上，因此，整体测试工具的尺寸与所占空间也因而变大。于此，不仅造成制造成本的提高，也同时引发测试工具的空间容置的问题。

更进一步地说，虽然此种测试工具可利用其导轨的结构，使得载具前进或后退。但于实际应用层面上，由于电路板的形状有为矩形、非矩形、抑或不规则的几何形状，当使用现有的平直结构的导轨时，载具仅能以直线位移滑动于导轨之上，无法使电路板有效率地直接到达其测试位置(即与测试端口电性连接处)。

其次，在实务上的应用时，为了闪避测试工具上的一些电子零组件或是测试用的连接端口等的组件，测试者必须采用二段式的直线位移运动，而将电路板推至测试位置上。也就是说测试者必须通过测试机台的压把，将载具分别经过直向与横向两段式地推压至真正的测试位置上，以进行测试工作。于此，不但造成测试者操作上的不便，为了执行二段式的运动，测试工具于其结构与连动机构上的设计也会更为复杂。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种测试工具结构，可解决现有技术导轨的制造成本过高与工具的容置空间过大的问题，又可有效地引导载具并将载具定位至测试位置上。

为了实现上述目的，本发明提供了一种测试工具结构，其中，包括有：

一架体，内部具有一容置空间；

一载板，设置于该容置空间内，该载板开设有至少一滑轨，该滑轨具有相连接的一平直段与一弯折段，且该平直段与该弯折段之间具有一夹角；以及

一承载盘，活动装设于该容置空间内，该承载盘具有至少一导引件，其中该导引件配置于该滑轨中，并往复滑移于该平直段与该弯折段之间，以带动该承载盘对应位移至一装载位置或是一测试位置。

上述的测试工具结构，其中，该导引件还具有一滚轮，该导引件以该滚轮接触于该滑轨，其中当该导引件于该滑轨中往复滑移，该滚轮以该导引件为轴心而旋转。

上述的测试工具结构，其中，该载板包括有多个该滑轨，且各该滑轨之间具有一间距。

上述的测试工具结构，其中，该平直段具有相对的二端，该平直段的其中一端与该弯折段相连接，该平直段的另外一端为一入口端，设置于该载板的一侧边上，该导引件经由该入口端而滑入该平直段与该弯折段中。

本发明的技术效果在于：本发明提出的测试工具结构，于其载板上直接开设滑轨，以减少额外导轨的制造成本与工具的容置空间，其次，还利用其滑轨具有平直段与弯折段的结构特征，致使承载盘可经由弯折段的设计而有效地被定位于测试位置上。解决了现有技术导轨的制造成本过高与工具的容置空间过大的问题，并可有效地引导载具并将载具定位至测试位置上。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为根据本发明一实施例的测试工具结构的立体示意图；

图2为根据图1装载前的位置示意图；

图3为根据图1的相对分解图；

图4A为根据图3的装载位置示意图；

图4B为根据图3的测试位置示意图；

图5为根据本发明第二实施例的导引件的结构图；

图6为根据本发明第三实施例的载板的结构图。

其中，附图标记

50  入口端

60  第一连接端

62  第二连接端

70  电性连接端口

72  侧边

100  测试工具结构

102  架体

104  载板