[发明专利]总光通量测量装置以及总光通量测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测量从对象物放射出的总光通量的总光通量测量装置以及总光通量测量方法，特别涉及一种适用于测量棒状发光体所放射出的总光通量的结构。

背景技术

以往，使用总光通量(1m：流明(lumen))作为评价使用于照明器具等的光源的性能的指标。作为以更高的精确度测量该总光通量的装置，已知使用了积分球的球形光通量计。在该球形光通量计中，将点亮的光源配置于积分球内，利用涂敷在积分球内壁的漫反射材料(例如，硫酸钡、PTFE(polytetrafluoroethylene：聚四氟乙烯)等)使来自该光源的光束反复反射。通过该反复反射，积分球内壁面的照度变得均匀。基于该积分球内壁面的照度与光源的总光通量成比例，通过测量积分球内壁面的照度并且将该测量值与预先获取到的利用标准光源测量出的照度进行比较，来算出来自测量对象的光源的总光通量。

作为与这种球形光通量计有关的先行技术，日本特开平07-146175号公报公开了一种具备积分球和积分球冷却装置的总光通量测量装置。该总光通量测量装置的目的在于，通过在使所要测量的灯以恒定功率点亮时将积分球冷却在特定温度，来进行稳定且精确度高的测量。

另外，在日本特开平06-167388号公报中公开了一种使用半球型的积分球的光通量计，该半球型的积分球由积分半球和平面镜构成，该积分半球在半球状的内壁上涂敷有光漫射材料，该平面镜通过上述积分半球的内部半球的曲率中心，覆盖上述积分半球的开口部。

通过使用上述的球形光通量计，对于直管荧光灯那样的棒状光源也能够测量总光通量。但是，在这种情况下，需要将积分球的内侧直径设为光源长度的1.2倍以上。这是由于光源的发光部越接近积分球壁面，在壁面反射的反射光越会重新入射到光源本身而形成影子，其结果是测量值产生误差。

例如，当想要测量一般在学校、办公室等处使用的40W(瓦特)的直管荧光灯的总光通量时，由于该直管荧光灯的纵长方向的长度约为1.2m，因此需要内侧直径为1.5m以上的积分球。进一步地，一般在车站等处使用的110W的直管荧光灯的纵长方向的长度达到约2.4m，因此为了测量这种直管荧光灯的总光通量，需要内侧直径为3m以上的大型积分球。

因而，在评价荧光灯这种棒状光源的总光通量时存在如下情况，需要相对大型的积分球，在制作、搬运等方面费时费力且需要成本，并且难以确保用于设置该积分球的足够空间。

发明内容

本发明是为了解决这种问题而完成的，其目的在于提供一种能够利用更小型的结构来更准确地测量总光通量的总光通量测量装置以及总光通量测量方法。

按照本发明的一个方面的总光通量测量装置包含：主体，其构成为能够安装作为棒状发光体的对象物；积分部，其具有用于使对象物沿纵长方向贯通该积分部的第一孔和第二孔；相对移动机构，其用于在对象物贯通积分部的状态下使对象物和积分部相对移动；测量部，其用于通过观测窗来测量积分部内的照度，该观测窗被设置于积分部的与第一孔和第二孔不同的位置处；以及处理部，其用于根据由测量部在如下情况下测量出的照度来算出对象物所放射出的总光通量，该情况是使对象物和积分部相对移动以使对象物全部的发光面都曾暴露于积分部的内部空间。

优选积分部包括：半球部，其在内壁面具有光漫反射层；以及平面镜，其被配置成封住半球部的开口。

更优选第一孔被设置于平面镜上的半球部的实际曲率中心处，第二孔被设置于平面镜的法线与半球部的交点处，该法线通过设置有第一孔的位置。

更优选本总光通量测量装置还包括筒状的限制部，该限制部用于限制对象物要暴露于积分部的内部空间的发光面，限制部与第二孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间的面上具有反射层。

更优选限制部构成为使暴露于积分部的内部空间的对象物的发光面的纵长方向上的长度为半球部的半径的5/6以下。

或者，优选积分部包括：球体部，其在内壁面具有光漫反射层；以及挡板，其被设置于对象物的发光面与观测窗之间。本总光通量测量装置还包括筒状的第一限制部和第二限制部，该第一限制部和第二限制部用于限制对象物要暴露于积分部的内部空间的发光面，第一限制部与第一孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间的面上具有反射层，第二限制部与第二孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间的面上具有反射层。

优选本总光通量测量装置还包括至少一个受光部，该至少一个受光部用于测量从存在于积分部的外部的对象物的发光面放射出的光的亮度，处理部根据至少一个受光部的亮度测量结果校正对象物的发光特性变动来算出总光通量。