[发明专利]一种两平行平面间距离尺寸的检测工具

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测距离尺寸的工具，特别涉及一种检测零件曲面上某一截面距另一平行平面之间的距离尺寸的工具。

背景技术

目前对距离尺寸的检测方法有采用如游标卡尺、高度尺等通用量具进行直接测量、投影仪上投影测量法测量、三坐标计量仪上坐标计量法测量。当需要测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面距离垂直于该轴线另一平面之间的距离尺寸P时，由于要测量零件曲面上某一截面距另一平行平面之间的距离尺寸，一般采用间接的方面来确定曲面上的被测截面，很难确定测量基准，测量误差很大；特别是在加工过程中，无法满足生产现场的100％在线测量需求，效率较低、成本较高。

发明内容

为了解决上述难题，本发明的目的是提供一种能定性判断出垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面距离另一平面之间距离尺寸P是否合格的检具，从而实现快速方便地检测。该发明易于实现、操作简单、量具成本低，解决了生产现场在线检测的需求，以及当要求对距离尺寸进行100％检测时效率低的问题。

本发明所述的检具，结构为一体两端式，左端为上极限量规孔，右端为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面(3)到上极限量规孔端面(2)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸P_max，基准孔端面(5)到下极限量规孔端面(4)的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸P_min；测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与零件上被测截面处的φd的值相等，测量时用基准孔直接在回转曲面上确定测量基准。

当用本发明所述检具测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值φd的截面与另一平面之间距离尺寸P时，先用检具的上极限量规端由右向左套入被测零件，使量规因受零件的阻挡不能继续向右移动为止，此时观察上极限量规端面与被测端平面沿轴线360°一周内的接触情况。如由于基准孔孔口与被测零件上的回转曲面上直径为φd的圆相接触而使得上极限量规上的测量端面与零件上的被测端平面A没有完全接触，判定该尺寸超长，如由于基准孔孔口与被测零件上的回转曲面上直径为φd的圆没有接触而使得上极限量规上的测量端面与零件上的被测端平面A完全接触，则判定该距离尺寸P没有超长；

然后，再用本发明所述检具的另一端下极限量规按同样的操作方法进行检测，如由于下极限量规上的测量端面与被测端平面A完全接触，判定该尺寸P超短，如没有完全接触，判定该距离尺寸P没有超短；当用上极限量规检查合格时，只能说明被测距离尺寸P没有超长，同时还要用下极限量规检查，下极限量规检查合格时，只能说明被测距离尺寸P没有超短。只有当上极限量规和下极限量规检查均合格时即：上极限量规的测量端面与被测端平面完全接触，下极限量规的测量端面与被测端平面没有完全接触，才能判定被测距离尺寸P是合格的。

该检测方法由于是用本发明所述检具极限量规上的基准孔在零件回转曲面上直接确定测量基准而减少了测量误差，且检具易于实现、操作简单、量具成本低，特别适用于在生产现场在线检测和要求进行100％检测时的情况。

附图说明

图1是本发明所述一体两端式极限量规结构示意图。

图2a是被测零件结构示意图。

图2b是被测零件结构示意图。

图3a是量规测量端面与零件被测端平面没接触情况示意图。

图3b是量规测量端面与零件被测端平面没接触情况示意图。

图3c是量规测量端面与零件被测端面没完全接触情况示意图。

图3d是量规测量端面与零件被测端面没完全接触情况示意图。

图4a是量规测量端面与零件被测端平面完全接触情况示意图。

图4b是量规测量端面与零件被测端平面完全接触情况示意图。

图5是被测零件管套示意图。

图6是测管套上的距离尺寸3.1±0.12的专用极限量规图。

图7是被测零件堵头示意图。

图8是测堵头上的距离尺寸5.7±0.15的专用极限量规图。