[发明专利]提高LED芯片图形识别能力的方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及LED发光二极管自动化生产或测试机台图形识别技术，尤其是一种提高LED芯片图形识别能力的方法及其系统。

背景技术

发光二极管的生产、检测流程中使用的自动化机具包括粘晶机(Die Bonder)、邦定机(Wire Bonder)及芯片检测机(Chip Prober)等均需要图形识别(Pattern Recognition)功能，以判别芯片的正确位置并引导机台动作。为提高鉴别率及计算器处理速度均采用单色的CCD作为影像摄取工具，因此仅能判读影像的灰阶(Gray Level)。

LED芯片上的结构以金属电极最为明显易判读，因此在执行影像识别时一向以金属电极的图形为依据。但芯片表面粗化(Surface Roughen)及图案基板(Patterned SapphireSubstrate)等提高芯片亮度新技术的采用往往造成CCD影像灰阶的变化导致金属电极不易区分。

目前一般采用单色光源，利用金属电极表面的黄金对不同波长反射率不同的特性改变其反射亮度以造成灰阶的差异化，但其差异不大并且不同芯片表面的灰阶不同仍然造成批量生产中的困扰。因此需要一个更好的方案可造成更大的灰阶差异并且适用于各种芯片。

发明内容

本发明目的是加大LED发光二极管芯片上金属电极与其它部分灰阶差异并能适用于各种芯片，方便LED发光二极管的生产、检测流程中进行图形识别(PatternRecognition)，以判别芯片的正确位置并引导机台动作，而提供一种提高LED芯片图形识别能力的方法及其系统。

本发明技术方案：提高LED芯片图形识别能力的方法，以线形偏振光源为照明光源，在CCD成像装置前设置有第二偏光镜以改变金属电极之影像灰阶；

线形偏振光源为采用无特殊偏振方向——圆形偏振之典型入射光源，于该光源前设置第一偏光镜，让一特定方向分亮之光通过而形成线形偏振入射光。

提高LED芯片图形识别能力的系统，包括无特殊偏振方向——圆形偏振之典型入射光源、CCD成像装置，在无特殊偏振方向——圆形偏振之典型入射光源前设置有形成线形偏振入射光的第一偏光镜，在CCD成像装置前设置有改变金属电极之影像灰阶的第二偏光镜；

第二偏光镜与第一偏光镜偏振方向既可以垂直也可以平行；

第二偏光镜与第一偏光镜镜面均包覆经碘浸染的聚乙烯醇膜。

若以线形偏振的光源入射于芯片表面，无论粗化的芯片表面或图案基板其散射出来光线的偏振方向将散乱成几乎是接近圆形对称的椭圆形偏振，而相对较平坦的金属电极则维持原来的线形偏振或很接近入射光源的极狭长椭圆形偏振，再置一偏光镜于CCD前则可以明显改变金属电极影像的亮度达到差异化的。

本发明有益效果：通过加大LED发光二极管芯片上金属电极与其它部分灰阶差异，使之能适用于各种芯片，方便LED发光二极管的生产、检测流程中进行图形识别(PatternRecognition)，以判别芯片的正确位置并引导机台动作，显著提高芯片鉴别率和生产效率，降低废品率和生产成本。

具体实施方式

实施例一

采用无特殊偏振方向(圆形偏振)之典型入射光源，置第一偏光镜于该光源前让一特定方向分亮之光通过而形成线形偏振入射光，金属电极之反射光之偏振明显较芯片其它面积集中于入射光之偏振方向；置第二偏光镜于CCD前，其偏振方向与第一偏光镜偏振方向垂直，则金属电极之反射光几乎无法通过而造成较深之影像而区别于其它区域。此处之第一及第二偏光镜可采用如液晶(LCD)使用之透过式偏光膜或其它反射式偏光镜均可。

实施例二

同实施例一，但其第二偏光镜之偏振方向平行于第一偏光镜偏振方向，则金属电极之反射光几乎全数通过而造成较明亮之影像而区别于其它区域。