[发明专利]具有高光萃取效率的圆台状发光二极管及其制作方法无效
申请号: | 201010190417.0 | 申请日: | 2010-05-24 |
公开(公告)号: | CN101872821A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 尹灵峰;蔡家豪;林潇雄;林素慧;郑建森 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20 |
代理公司: | 厦门原创专利事务所 35101 | 代理人: | 徐东峰 |
地址: | 361009 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 萃取 效率 圆台 发光二极管 及其 制作方法 | ||
1.具有高光萃取效率的圆台状发光二极管,包括一衬底,在衬底上表面依次叠层布拉格反射层、第一型磊晶层、发光层、第二型磊晶层和窗口层,构成一层叠结构的晶片,其特征在于:晶片的外形为圆台状,在晶片的顶面连接一P电极,在晶片的底面连接一N电极。
2.具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其制作步骤如下:
1)在衬底上依次外延生长布拉格反射层、第一型磊晶层、发光层、第二型磊晶层和窗口层构成一晶片;
2)在窗口层形成P电极;
3)在晶片的顶面形成第一光刻胶用于遮盖P电极,并通过光罩、蚀刻作业,使第一光刻胶呈圆形;
4)在第一光刻胶顶面依次形成保护层和第二光刻胶,并通过光罩、蚀刻作业,使保护层和第二光刻胶呈圆形且上下重叠;
5)通过干法蚀刻,对晶片进行非等向性刻蚀,使晶片呈圆台状;
6)在晶片中的衬底底面形成N电极;
7)去除残留的光刻胶和保护层,用钻石刀将晶片切穿即得发光二极管芯粒。
3.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:衬底材料选用GaAs、GaP或前述的任意组合之一。
4.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:P电极材料选自Au、BeAu、ZnAu或前述的任意组合之一。
5.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:N电极材料选自Au、GeAu、Ni或前述的任意组合之一。
6.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:第二光刻胶的图案面积小于第一光刻胶的图案面积。
7.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:保护层选自SiO2、SiNx、Ni、Cr或前述的任意组合之一。
8.如权利要求2所述的具有高光萃取效率的圆台状发光二极管的制作方法,其特征在于:干法蚀刻采用的蚀刻气体选自Ar、O2、BCl3、Cl2、SiCl4或前述的任意组合之一。
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