[发明专利]触控面板及其制造方法和液晶显示器有效

专利信息
申请号: 201010193933.9 申请日: 2010-05-28
公开(公告)号: CN102262473A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 郭建;周伟峰;明星;吴昊 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G02F1/133
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 面板 及其 制造 方法 液晶显示器
【权利要求书】:

1.一种触控面板,其特征在于,包括:对盒基板和与所述对盒基板对盒设置的触控基板,所述触控基板和所述对盒基板之间形成有第一检测电极线、第二检测电极线、导电结构和隔垫物,所述第一检测电极线和第二检测电极线呈垂直分布,所述隔垫物的高度大于所述导电结构的高度;

所述导电结构,用于与所述第一检测电极线接触时和/或与所述第二检测电极线接触时,导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线;

所述隔垫物,用于支撑所述触控基板和所述对盒基板。

2.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于:所述第一检测电极线形成于所述触控基板上,所述第二检测电极线形成于所述对盒基板上;

所述导电结构形成于所述第一检测电极线上,所述导电结构用于与所述第二检测电极线接触时导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线;或者所述导电结构形成于所述第二检测电极线上,所述导电结构用于与所述第一检测电极线接触时导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线。

3.根据权利要求2所述的触控面板,其特征在于:

当所述导电结构形成于所述第一检测电极线时,所述导电结构的宽度小于相邻所述第一检测电极线之间的间距;或者

当所述导电结构形成于所述第二检测电极线上时,所述导电结构的宽度小于相邻所述第二检测电极线之间的间距。

4.根据权利要求2或3所述的触控面板,其特征在于:所述对盒基板包括对盒设置的彩膜基板和阵列基板;

若所述彩膜基板与所述触控基板对盒设置,则所述第二检测电极线形成于所述彩膜基板上;或者

若所述阵列基板与所述触控基板对盒设置,则所述第二检测电极线形成于所述阵列基板上。

5.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,

所述第一检测电极线包括第一接口区域,所述第一检测电极线上形成有绝缘层,所述绝缘层上形成有位于所述第一接口区域上方的过孔,所述第二检测电极线形成于所述绝缘层上,所述第二检测电极线包括第二接口区域,所述第一检测电极线和所述第二检测电极线组成检测区,所述第一接口区域和所述第二接口区域位于所述检测区内;所述导电结构用于与所述第二检测电极线的第二接口区域接触和通过所述过孔与所述第一检测电极线的第一接口区域接触时导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线;

所述第一检测电极线形成于所述触控基板上,所述导电结构形成于所述对盒基板上与所述检测区对应的位置;或者所述第一检测电极线形成于所述对盒基板上,所述导电结构形成于所述触控基板上与所述像素区对应的位置。

6.根据权利要求1、2、3或5所述的触控面板,其特征在于,所述第一检测电极线是透明的,所述第二检测电极线是透明的。

7.一种液晶显示器,包括外框架和背光模组,其特征在于,还包括:权利要求1至6任一所述的触控面板。

8.一种触控面板的制造方法,其特征在于,包括:

在触控基板和对盒基板之间形成第一检测电极线、第二检测电极线和导电结构,所述第一检测电极线和第二检测电极线呈垂直分布,所述导电结构用于与所述第一检测电极线接触时和/或与所述第二检测电极线接触时,导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线;

在所述触控基板和所述对盒基板之间形成隔垫物,所述隔垫物的高度大于所述导电结构的高度,所述隔垫物用于支撑所述触控基板和所述对盒基板;

将所述触控基板和所述对盒基板进行对盒。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述在触控基板和对盒基板之间形成第一检测电极线、第二检测电极线和导电结构包括:

在所述触控基板上沉积第一透明导电层,通过对该第一透明导电层进行光刻工艺形成所述第一检测电极线,在所述第一检测电极线上形成所述导电结构,在所述对盒基板上沉积第二透明导电层,通过对该第二透明导电层进行光刻工艺形成所述第二检测电极线,所述导电结构用于与所述第二检测电极线接触时导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线;或者

在所述触控基板上沉积第一透明导电层,通过对该第一透明导电层进行光刻工艺形成所述第一检测电极线,在所述对盒基板上沉积第二透明导电层,通过对该第二透明导电层进行光刻工艺形成所述第二检测电极线;在所述第二检测电极线上形成所述导电结构,所述导电结构用于与所述第一检测电极线接触时导通所述第一检测电极线和所述第二检测电极线。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010193933.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top