[发明专利]红外光学气体测量装置有效
申请号: | 201010194282.5 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN101995391B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | H·赫特曼;A·莫尔特 | 申请(专利权)人: | 德拉格安全股份两合公司 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 彭武,曹若 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 光学 气体 测量 装置 | ||
1.一种红外的光学气体测量装置,其包括:
气体入口开口,其用于将要在红外光学气体传感器中加以分析的气体样品;外部壳体;至少一个红外辐射源;在气体入口开口的区域中的两个开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200),所述开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)以预定距离(300)布置成一个在另一个顶部,从而使得一个特定开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的透明且可渗透气体的元件(23, 24, 27, 28, 35, 37, 39, 40, 47, 48)在竖直轴线方向由相应另一开槽盘(20, 10)或相应另一穿孔盘(100, 200)的不透明且不可渗透气体的元件(25, 26, 36, 38)所覆盖,不透明且不可渗透气体的元件在面积方面的延伸选择为大于透明且可渗透气体的元件的面积,从而使得在两个开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的水平方向上存在着面积方面的重叠;这种面积方面的重叠有利地防止光在竖直方向穿过两个开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的竖直布置,且使得由所述至少一个红外辐射源发出的光在两个开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的布置处有可能被完全反射。
2.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,在开槽盘(10, 20)中布置开槽圆区段(27, 28)作为透明且可渗透气体的元件,来与作为不透明且不可渗透气体的元件的完整圆区段(25, 26)相对于参考点(14)同心地交替。
3.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽盘(10, 20)的所述透明且可渗透气体的元件包括相对于参考点(14)同心地布置的开槽环区段(35)。
4.根据权利要求3所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽环区段(35)包括多个穿孔(37)且形成穿孔盘(100, 200)。
5.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽盘(10, 20)的所述透明且可渗透气体的元件包括开槽区段(23, 24),所述开槽区段(23, 24)源自参考点(14)且布置成辐射图案。
6.根据权利要求5所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽区段(23, 24)包括多个穿孔(37)且形成穿孔盘(100, 200)。
7.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽盘(10, 20)的所述透明且可渗透气体的元件包括彼此平行布置的开槽区段(23, 24)。
8.根据权利要求7所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽区段(23,24)包括多个穿孔(37)且形成穿孔盘(100, 200)。
9.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述透明且可渗透气体的元件包括多个穿孔(37)且形成穿孔盘(100, 200)。
10.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽盘(10, 20)或所述穿孔盘(100, 200)上的参考点(14)的水平位置与所述开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的中心(15)局部地相同。
11.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,所述开槽盘(10, 20)或所述穿孔盘(100, 200)上的槽或圆区段的旋转对称布置的参考点(14)的水平位置并非与所述开槽盘(10, 20)或穿孔盘(100, 200)的中心(15)局部地相同。
12.根据权利要求1所述的光学气体测量装置,其特征在于,选择所述开槽盘(10, 20)或所述穿孔盘(100, 200)上的槽或圆区段的参考点(14)的水平位置在所述开槽盘(10, 20)或所述穿孔盘(100, 200)的外侧相对于中心在侧向偏移,
且存在着带有光通道(31, 32, 33)的底部部段(3),与中心偏离的参考点(14)的位置允许:
下面布置有红外辐射源(43)的第三光通道(33)相对于底部部段(3)的中心偏移,且
各自下面分别布置有红外检测器(41, 42)的第一光通道(31)和第二光通道(32)同样布置成相对于底部部段(3)的中心偏移。
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