[发明专利]一种卫星光学遥感相机内方元素在轨检校方法有效

专利信息
申请号: 201010194882.1 申请日: 2010-06-02
公开(公告)号: CN101852623A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 郝雪涛;徐建艳 申请(专利权)人: 中国资源卫星应用中心
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C11/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 卫星 光学 遥感 相机 元素 校方
【权利要求书】:

1.一种卫星光学遥感相机内方元素在轨检校方法,其特征在于包括如下步骤:

建立OXYZ三维坐标系,其中相机在坐标系中的位置为O1,地球中心在坐标系中的位置为O2,坐标系中X向为线阵推扫方向,Y向为垂轨方向,Z向为遥感相机视轴,设地面某控制点P,向量O1P与地球相交于P点,O1P与焦平面相交于P2点,由于光学部件设计与加工缺陷的存在,视向量O1P在焦平面的实际成像位置为P1点,设P2点的Y坐标为y2,P1点的Y坐标为y1,则根据径向畸变模型公式得出y2与y1的关系式:

y2=c0+c1y1+c2y12+c3y13

计算模型参数c0、c1、c2和c3,将计算得到的模型参数c0、c1、c2和c3代入上式,得到P2点修正后的Y坐标y2′,进一步得到拟合残差Δy2=y′2-y2,调整相机焦距f,使得拟合残差Δy2最小,完成在轨检校,其中计算模型参数c0、c1、c2和c3的步骤如下:

(1)选择几何检校区,卫星在几何检校区成像后得到1级图像,同时选择与1级图像具有相同分辨率或更高分辨率的正射影像和DEM高程图作为参考图,在1级图像上选取k个控制点,同时在所述参考图上选取k个同名点,记录1级图像上k个控制点的坐标(m,n),m表示列号,n表示行号,记录参考图上k个同名点的经纬度坐标和高度值(Lon,Lat,h),Lon表示经度,Lat表示纬度,h表示高度,其中k为正整数;

(2)根据列号m,计算OXYZ三维坐标系下控制点的y坐标,

y=c(m-M/2),其中M表示一行的像元个数,c表示像元尺寸,

得到控制点线阵向量w0(0,y,f),进一步归一化得到控制点线阵向量wi

(3)根据行号n,计算控制点所在行的成像时刻秒计数t,

t=n·d-t0,其中d为积分时间,t0为1级图像第一行秒计数,

根据秒计数t,利用卫星下传的GPS数据,计算成像时刻卫星在地固系的位置坐标向量Pt,并假设卫星和相机的坐标重合,根据参考图上同名点的经纬度坐标和高度值(Lon,Lat,h),计算得到地固系下控制点的坐标向量Pj,控制点坐标向量Pj减去卫星位置坐标向量Pt得到控制点视向量v0,进一步归一化得到控制点视向量vi

(4)在k个控制点的线阵向量wi中选择最接近相机视轴的向量wij,计算向量wij与视轴的夹角α:

y0表示离相机视轴最近的控制点的y坐标;

分别以最接近相机视轴的向量wij、vij为基准,计算其它k-1个向量与所述向量wij、vij的夹角,得到k-1个控制点线阵向量间夹角Awi和k-1个控制点视向量间夹角Avi,每个夹角都加上一个夹角α,得到Aw’i和Av’l

(5)计算线阵坐标Bwi和Bvi,计算公式为:

Bwi=f*tan(Aw′i)

Bvi=f*tan(Av′i),f为相机焦距;

线阵坐标Bwi和Bvi分别对应公式y2=c0+c1y1+c2y12+c3y13中的y1和y2,将Bwi和Bvi代入公式y2=c0+c1y1+c2y12+c3y13,用最小二乘法拟合得到模型参数c0、c1、c2和c3

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