[发明专利]一种平均无故障时间的测试方法和装置

说明书

技术领域

本发明属于软件测试领域，尤其涉及一种平均无故障时间的测试方法和装置。

背景技术

各种终端中使用的软件程序，如移动终端中的软件程序在发布以前，为了保证软件程序的稳定性，给用户一个良好的体验，一般都需要进行平均无故障时间测试(Mean Time To Failure，MTTF)。其中平均无故障时间测试是指对软件程序进行稳定性测试，以测试软件程序平均能够正常运行多长时间，才发生一次故障。

现有的平均无故障时间的测试方法原理如下：一般在安装有软件程序的终端(如移动终端)上安装MTTF测试工具，该MTTF测试工具运行在后台，其可以模拟用户的操作，如模拟按键启动或退出程序等。当需要测试软件程序时，启动MTTF测试工具并设置一个运行时间，由MTTF测试工具模拟用户的操作来启动被测程序，并通过其随机的模拟按键以对被测程序进行随机测试。如果在MTTF测试工具模块用户按键的过程中，被测程序出现错误而退出，则MTTF测试工具停止测试，并记录从开始测试到出现错误的总时间，从而测试该被测程序的平均无故障时间。

这种平均无故障时间的测试方法在被测程序发生异常而退出时，停止测试，从而只能得到被测程序存在问题，测试人员无法获知该被测程序的出错信息，从而难以定位被测程序的错误。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种平均无故障时间的测试方法，旨在解决现有的平均无故障时间测试方法难以定位错误的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种平均无故障时间的测试方法，所述方法包括下述步骤：

在对被测程序进行随机测试前，设置被测程序的期望运行时间；

当被测程序异常退出且被测程序的实际运行时间小于期望运行时间时，记录被测程序异常退出时的出错信息，同时重新对被测程序进行随机测试。

优选地，所述方法还包括下述步骤：

控制摄像头实时的对测试过程中的用户界面进行摄像，并保存摄像信息。

优选地，所述出错信息包括出错原因信息、出错时间信息以及被测程序的详细运行日志信息。

优选地，所述记录被测程序异常退出时的出错信息的步骤具体为：

从进程句柄获取被测程序异常退出时的出错原因信息，并记录被测程序异常退出时的时间信息，同时记录被测程序的详细运行日志信息。

优选地，采用平均无故障时间测试工具对被测程序进行随机测试。

本发明实施例的另一目的在于提供一种平均无故障时间的测试装置，所述装置包括：

运行时间设置单元，用于在对被测程序进行随机测试前，设置被测程序的期望运行时间；

出错信息记录单元，用于在被测程序异常退出且被测程序的实际运行时间小于期望运行时间时，记录被测程序异常退出时的出错信息；以及

程序重启单元，用于在被测程序异常退出且被测程序的实际运行时间小于期望运行时间时，重新对被测程序进行随机测试。

优选地，所述装置还包括：

测试摄像单元，用于控制摄像头实时的对测试过程中的用户界面进行摄像，并保存摄像信息。

在本发明实施例中，当被测程序异常退出且被测程序的实际执行时间小于期望执行时间时，记录被测程序异常退出时的出错信息，从而可以快速、准确、高效的定位被测程序的出错信息，根据出错信息即可定位出错的类型，测试人员可以通过对出错的类型进行分析，有利于测试人员调试被测程序。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的平均无故障时间的测试方法的实现流程图；

图2是本发明第二实施例提供的平均无故障时间的测试方法的实现流程图；

图3是本发明实施例提供的平均无故障时间的测试装置的结构框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在本发明实施例中，在启动MTTF测试工具对被测程序进行随机测试前，设置被测程序的期望运行时间，当被测程序异常退出且被测程序的实际运行时间小于期望运行时间时，记录被测程序异常退出的出错信息，同时MTTF测试工具重新启动被测程序进行随机测试，从而可以快速、准确、高效的定位被测程序的出错信息。

实施例一：

图1示出了本发明第一实施例提供的平均无故障时间的测试方法实现流程，详述如下：

在步骤S101中，在对被测程序进行随机测试前，设置被测程序的期望运行时间。