[发明专利]一种芯片测试的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片的自动测试设备，特别是涉及一种芯片测试的方法和系统。

背景技术

ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)，是一种通过计算机控制来进行器件、电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。

一般的ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚，ATE测试系统每个管脚有独立的测试资源。测试时候，每个管脚有对应的输入或输出信号，并由这些信号构成测试向量，进行不同芯片功能的测试。

ATE的开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统(10MHz，64pins)到中等数量管脚、中速测试系统(40MHz，256pins)到高管脚数、高速(超过100MHz，1024pins)并最终过渡到现在的SoC(System on Chip，系统集成在一个芯片)测试系统(超过400MHz，1024pin，并具备模拟、存储器测试能力)。

目前器件速度已经达到1.6GHz，管脚数达到1024，所有的电路都集成到单个芯片。因此由针对管脚的测试向量构成的测试向量源文件体积特别大，甚至超过数G bytes，这样的源文件直接编译成测试向量文件后，在ATE上使用会占用很大的LVM(Logical Volume Manager逻辑盘卷管理)内存空间，而且加载速度也慢。因此，ATE在进行测试向量源文件的修改和配置时，耗费了大量的时间和资源，造成了测试效率低下。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片测试的方法和系统，能够减少测试向量源文件的体积，节省内存提高ATE的测试速度，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和内存资源，测试效率低下的技术问题。

为了实现上述目的，一方面，提供了一种芯片测试的方法，包括如下步骤：

按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；

将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；

在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。

优选地，上述的方法中，所述对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件的步骤具体包括：

如果当前行是测试向量数据行，判断所述当前行是否与上一行相同，是则将所述重复的次数进行加一操作；否则将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。

优选地，上述的方法中，还包括：如果所述当前行不是测试向量数据行，则直接将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。

优选地，上述的方法中，还包括：如果所述重复次数不大于1，则不记录所述重复次数。

为了实现上述目的，本发明还提供了一种芯片测试的系统，包括：

读取模块，用于：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；

压缩模块，用于：将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；

测试执行模块，用于：在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。

优选地，上述的系统中，所述压缩模块包括：

重复判断单元，用于：如果当前行是测试向量数据行，判断所述当前行是否与上一行相同，是则将所述重复的次数进行加一操作；否则将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。

优选地，上述的系统中，所述压缩模块还包括：

第一判断单元，用于：判断所述当前行是否为测试向量数据行，是则执行所述重复判断单元的功能，否则直接将所述上一行的重复的次数和所述当前行写入所述新文件。

优选地，上述的系统中，所述压缩模块还包括第二判断单元，用于：如果所述重复次数不大于1，则不记录所述重复次数。

本发明至少存在以下技术效果：