[发明专利]一种具有微通道结构的TFT基板及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201010195978.X 申请日: 2010-06-09
公开(公告)号: CN101866954A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 刘萍 申请(专利权)人: 深圳丹邦投资集团有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/26;H01L21/336;H01L21/205
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 518057 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 通道 结构 tft 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种微通道结构的TFT基板,包括玻璃基板(1),其特征是:还包括非晶硅薄膜(2)和位于非晶硅薄膜(2)上下的两层MgO薄膜(3),其中一层MgO薄膜(3)附着于玻璃基板(1)上。

2.如权利要求1所述的微通道结构的TFT基板,其特征在于:所述非晶硅薄膜的厚度为0.1-0.2μm,所述MgO膜的厚度为0.1-0.2μm。

3.一种微通道结构的TFT基板的制备方法,其特征是包括如下步骤:

A、下层MgO薄膜的沉积:将玻璃基板放入Sputter设备的基板座上,对系统抽真空,对玻璃基板进行加热,然后开启射频电源,进行MgO薄膜的均匀生长,直到达到所需的厚度为止;

B、中间层非晶硅薄膜的沉积:将步骤A得到的基板放入PECVD的基板座上,对系统抽真空,对玻璃基板进行加热,将反应气体材料硅烷通过气体接入装置送入PECVD反应腔体内,根据非晶硅薄膜厚度的要求,调节气体的流量至所需的值,然后开启反应室电源使气体在反应腔体中产生辉光放电,使非晶硅薄膜就在玻璃基板上均匀的生长到所需的厚度;

C、上层MgO薄膜沉积:将步骤B得到的基板放入Sputter设备的基板座上,对系统抽真空,对玻璃基板进行加热,然后开启射频电源,调节好工艺参数,进行MgO薄膜的均匀生长,直到达到所需的厚度为止。

4.如权利要求3所述的微通道结构的TFT基板,其特征在于:在步骤A和C中,玻璃基板的温度为270-330℃左右,在步骤B中玻璃基板的温度为180-220℃。

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