[发明专利]数字摄像机和用于测试数字摄像机功能的方法无效

专利信息
申请号: 201010196219.5 申请日: 2010-04-19
公开(公告)号: CN101867714A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: K·索伦森;P·索森;N·韦纳;K·B·瓦尔比约恩 申请(专利权)人: 卡洛加瓦兹服务公开股份有限公司
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;G06T7/00;G01S17/89
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李娜;王忠忠
地址: 瑞士斯*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 数字 摄像机 用于 测试 功能 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及数字摄像机和用于测试数字摄像机功能的方法。

背景技术

现有技术中的运动传感器,例如,用于门口(door opening)的运动传感器,大多数与多普勒雷达一起工作。换句话说,当物体或者人接近传感器时,从传感器发射的雷达波束将被物体或者人反射,而且,反射波束将发生频移(多普勒效应)。反射的辐射被该运动传感器识别。然而,移动很慢的物体由于速度太慢或者不存在多普勒效应而无法被探测到。

在运动传感器中使用摄像机会提供更好的结果,尤其是在应该探测到移动很慢或者静止物体的时候。然而,摄像机可能由于其识别系统中的缺陷而发生故障。

发明内容

因此,本发明的目的是提供一种数字摄像机,其适当的功能可被容易地、可靠地测试。

本发明的目的还提供一种用于测试可能是运动传感器设备的一部分的数字摄像机的功能的测试方法。

上述目的通过独立权利要求中所述的一种数字摄像机和一种方法来实现。

优选实施例为从属权利要求中的主题。

根据具体的优选实施例,该数字摄像机包含处理器设备,其适于读取来自传感元件的信号,并且分析所读取的信号是否正确对应于由辐射源照射到该传感元件上的电磁辐射。该辐射源,其可以是光源,可包含几个光元件,例如多个LED,其可被单独控制。所述光元件可被选择为发射不同波长和/或不同强度。还可提供开/关调制。

为了更好地理解本发明的目的和特征,将参照所附附图更详细地描述优选实施例。

附图说明

图1示意性示出了包括根据本发明的数字视频摄像机1的运动传感器设备。

具体实施方式

该图1示意性示出了包括根据本发明的数字视频摄像机1的运动传感器设备。数字视频摄像机1包含传感元件2,其具有像素方阵或者矩阵。在传感元件2的前面有可被打开或者关闭的快门6。在该快门的打开状态,光可从摄像机镜头8传至传感元件2。在该快门的关闭状态,从摄像机镜头8传至快门6的光被阻挡,即,没有来自该摄像机外部的光落在传感元件2上。数字视频摄像机1还包含处理器设备5,其接收来自传感元件2的数据。提供具有可变增益的放大器7来接收来自传感元件2的像素数据,并且将该数据输出到处理器设备5。处理器设备5连接至评估站9。处理器设备5还连接至放大器7的增益控制输入。此外,处理器设备5连接至快门6的触发输入。

辐射源3、3’被提供在该光学摄像机镜头8和快门6之间。每个辐射源3、3’分别包含辐射元件3a、3b和3c、3d。在这个例子中,辐射元件是发光二极管(LED)。辐射源3、3’以这种方式布置:当快门6打开时,来自辐射元件3a、3b、3c和3d的辐射落到传感元件2的光敏面上。辐射源3、3’以这种方式连接至处理器设备5:每个辐射元件3a、3b、3c、3d可由处理器设备5单独控制。这样,每个辐射元件3a、3b、3c、3d可独立于辐射元件3a、3b、3c、3d中的其他元件被接通、关断,以及变暗。

在测试阶段,辐射源3直接发射光至传感元件上,即,不通过摄像机1的镜头8。虽然在后者的情况下仅能照射该矩阵的一小部分,但当辐射源3被放置在摄像机1外壳内部邻近传感元件2时,该光将照射整个传感元件2。

下面将讨论不同的测试设置变型:

1)施加到摄像机传感元件2的光可测试整个或部分传感元件2。

a.基于安全性理由,将测试传感元件2。这意味着整个或者部分画面场将探测该场内的任何物体。为了确保该功能,要求指定场内的像素应对应于所施加的光。

b.当探测到来自像素的响应时,信号通过摄像机处理和,处理。与该信号处理相关的是,该测试中包括整个传感元件2或者部分传感元件2。

2)1)中所用摄像机的快门时间的变化可测试整个传感元件2或者部分传感元件2。

a.该摄像机可如1)中那样被测试。如果光施加到摄像机传感元件2上,则快门时间的变化将改变摄像机中每个像素的响应。

3)1)中所用摄像机的增益的变化可测试整个传感元件2或者部分传感元件2。

a.该摄像机可如1)中那样被测试。如果光施加到该摄像机芯片上,则增益的变化将改变摄像机中每个像素的响应。

4)施加到1)中所用摄像机芯片边缘的光可测试整个传感元件2或者部分传感元件2。

a.该摄像机可如1)中那样被测试。在这种情况下,从该摄像机芯片的边缘施加光。

5)4)中所用光的开/关调制可测试整个传感元件2或者部分传感元件2。

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