[发明专利]影像感测元件及其制作方法有效
申请号: | 201010196287.1 | 申请日: | 2010-06-03 |
公开(公告)号: | CN101944533A | 公开(公告)日: | 2011-01-12 |
发明(设计)人: | 李瑞康;曾乙峰;曾建贤 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/335 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈肖梅;谢丽娜 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 元件 及其 制作方法 | ||
1.一种影像感测元件,包含光学像素与电子电路,其特征在于,该光学像素包含:
基板;
影像感测区,形成于该基板内部;
一屏蔽层,该屏蔽层位于该影像感测区的一表面上,该屏蔽层是于该影像感测元件的电子电路制造过程中所形成;以及
光通道结构,该光通道结构位于该屏蔽层上方,用以增加该影像感测区的感测能力。
2.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,该屏蔽层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、铝酸物、复晶硅、或金属。
3.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,该影像感测区与该屏蔽层之间,具有一中间层,该中间层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、或铝酸物。
4.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,进一步包含一光谐振结构,该光谐振结构形成于该屏蔽层上方光通道结构内部。
5.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构为一法布立-拍若谐振镜。
6.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构包含上方反射层与下方反射层,该下方反射层由前述屏蔽层构成。
7.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构包含:
一第一金属层,形成于该屏蔽层上方;
一第一非金属层,形成于该第一金属层上方;
一第二金属层,形成于该第一非金属层上方;及
一第二非金属层,形成于该第二金属层上方。
8.如权利要求7所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构还包含:
一第三非金属层,形成于该屏蔽层与第一金属层之间。
9.如权利要求7或8所述的影像感测元件,其中,各金属层由下列材质的至少一材质形成:金、银、钛、钽、铜、铝、以上金属的碳化物、以上金属的氧化物、或以上金属的氮化物。
10.如权利要求7或8所述的影像感测元件,其中,各非金属层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、或碳化物。
11.一种影像感测元件的制作方法,其特征在于,包含下列步骤:
提供一基板;
于该基板内部,形成一影像感测区;
于该影像感测区上方,形成一屏蔽层;
于该屏蔽层上沉积介电层;
蚀刻该介电层,停止于该屏蔽层,以于该屏蔽层上方形成一光通道结构;以及
保留而不完全移除该屏蔽层。
12.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该影像感测元件包含光学像素与电子电路,且该屏蔽层是于电子电路制造过程中所形成。
13.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该屏蔽层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、铝酸物、复晶硅、或金属。
14.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该影像感测区与该屏蔽层之间,具有一中间层,该中间层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、或铝酸物。
15.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,进一步包含:于该屏蔽层上方光通道结构内部形成一光谐振结构。
16.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,该光谐振结构为一法布立-拍若谐振镜。
17.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,该光谐振结构包含上方反射层与下方反射层,该下方反射层由前述屏蔽层构成。
18.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,形成该光谐振结构的步骤包含:
于该屏蔽层上方,形成一第一金属层;
于该第一金属层上方,形成一第一非金属层;
于该第一非金属层上方,形成一第二金属层;及
于该第二金属层上方,形成一第二非金属层。
19.如权利要求18所述的影像感测元件的制作方法,其中,形成该光谐振结构的步骤还包含:
于该屏蔽层与第一金属层间,形成一第三非金属层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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