[发明专利]影像感测元件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201010196287.1 申请日: 2010-06-03
公开(公告)号: CN101944533A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 李瑞康;曾乙峰;曾建贤 申请(专利权)人: 原相科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H04N5/335
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈肖梅;谢丽娜
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 影像 元件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种影像感测元件,包含光学像素与电子电路,其特征在于,该光学像素包含:

基板;

影像感测区,形成于该基板内部;

一屏蔽层,该屏蔽层位于该影像感测区的一表面上,该屏蔽层是于该影像感测元件的电子电路制造过程中所形成;以及

光通道结构,该光通道结构位于该屏蔽层上方,用以增加该影像感测区的感测能力。

2.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,该屏蔽层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、铝酸物、复晶硅、或金属。

3.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,该影像感测区与该屏蔽层之间,具有一中间层,该中间层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、或铝酸物。

4.如权利要求1所述的影像感测元件,其中,进一步包含一光谐振结构,该光谐振结构形成于该屏蔽层上方光通道结构内部。

5.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构为一法布立-拍若谐振镜。

6.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构包含上方反射层与下方反射层,该下方反射层由前述屏蔽层构成。

7.如权利要求4所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构包含:

一第一金属层,形成于该屏蔽层上方;

一第一非金属层,形成于该第一金属层上方;

一第二金属层,形成于该第一非金属层上方;及

一第二非金属层,形成于该第二金属层上方。

8.如权利要求7所述的影像感测元件,其中,该光谐振结构还包含:

一第三非金属层,形成于该屏蔽层与第一金属层之间。

9.如权利要求7或8所述的影像感测元件,其中,各金属层由下列材质的至少一材质形成:金、银、钛、钽、铜、铝、以上金属的碳化物、以上金属的氧化物、或以上金属的氮化物。

10.如权利要求7或8所述的影像感测元件,其中,各非金属层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、或碳化物。

11.一种影像感测元件的制作方法,其特征在于,包含下列步骤:

提供一基板;

于该基板内部,形成一影像感测区;

于该影像感测区上方,形成一屏蔽层;

于该屏蔽层上沉积介电层;

蚀刻该介电层,停止于该屏蔽层,以于该屏蔽层上方形成一光通道结构;以及

保留而不完全移除该屏蔽层。

12.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该影像感测元件包含光学像素与电子电路,且该屏蔽层是于电子电路制造过程中所形成。

13.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该屏蔽层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、铝酸物、复晶硅、或金属。

14.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,该影像感测区与该屏蔽层之间,具有一中间层,该中间层由下列材质的至少一材质形成:氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物、硅酸物、或铝酸物。

15.如权利要求11所述的影像感测元件的制作方法,其中,进一步包含:于该屏蔽层上方光通道结构内部形成一光谐振结构。

16.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,该光谐振结构为一法布立-拍若谐振镜。

17.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,该光谐振结构包含上方反射层与下方反射层,该下方反射层由前述屏蔽层构成。

18.如权利要求15所述的影像感测元件的制作方法,其中,形成该光谐振结构的步骤包含:

于该屏蔽层上方,形成一第一金属层;

于该第一金属层上方,形成一第一非金属层;

于该第一非金属层上方,形成一第二金属层;及

于该第二金属层上方,形成一第二非金属层。

19.如权利要求18所述的影像感测元件的制作方法,其中,形成该光谐振结构的步骤还包含:

于该屏蔽层与第一金属层间,形成一第三非金属层。

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