[发明专利]碳化硅单晶的制造装置有效
申请号: | 201010196460.8 | 申请日: | 2010-06-03 |
公开(公告)号: | CN101906664A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 小岛淳;木藤泰男;索尼娅·安吉利斯;安布罗焦·佩斯纳提;约瑟夫·塔伦齐 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装;LPE股份公司 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 周欣;陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 碳化硅 制造 装置 | ||
1.一种碳化硅单晶的制造装置,其具备:
反应容器(10)、
配置在反应容器(10)内、且由碳化硅单晶基板构成的晶种(5)、
对原料气体(3)进行加热的加热容器(9);
晶种(5)被配置在反应容器(10)的上方;
碳化硅的原料气体(3)从反应容器(10)的下方供给,到达晶种(5),在晶种(5)的表面使碳化硅单晶(6)生长;
加热容器(9)相对于反应容器(10)被配置在所述原料气体(3)的流动路径上游侧;
加热容器(9)具备:中空筒状部件(9c)、原料气体入口(9a)、原料气体供给喷嘴(9b)和多个挡板(9d~9i);
原料气体入口(9a)向中空筒状部件(9c)内导入所述原料气体(3);
原料气体供给喷嘴(9b)从所述中空筒状部件(9c)向所述反应容器(10)中排出原料气体(3);
多个挡板(9d~9i)在从原料气体入口(9a)到原料气体供给喷嘴(9b)之间被配置在原料气体(3)的流动路径上。
2.根据权利要求1所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
加热容器(9)具有用f定义的原料气体(3)的平均流路长度;
平均流路长度是加热容器(9)内的原料气体(3)的流动路径的平均长度;
平均流路长度与用H定义的从原料气体入口(9a)连结到原料气体供给喷嘴(9b)的直线距离具有f>1.2H的关系。
3.根据权利要求1所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
多个挡板(9d~9f)与中空筒状部件(9c)的中心轴交叉,以该中心轴作为排列方向多段排列地配置;
多个挡板(9d~9f)具有位于最靠近原料气体入口(9a)侧的最下方的挡板(9d);
最下方的挡板(9d)在从上方看加热容器(9)时覆盖原料气体入口(9a)。
4.根据权利要求3所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
多个挡板(9d~9f)具有位于最靠近原料气体供给喷嘴(9b)侧的最上方的挡板(9f);
最上方的挡板(9f)在从下方看加热容器(9)时覆盖原料气体供给喷嘴(9b)。
5.根据权利要求4所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
多个挡板(9d~9f)具有配置于最下方的挡板(9d)与最上方的挡板(9f)之间的中间挡板(9e);
中间挡板(9e)具有圆形状挡板(9e)和环状挡板;
圆形状挡板(9e)与最下方的挡板(9d)相邻;
环状挡板与圆形状挡板(9e)相邻;
环状挡板具有开口部;
圆形状挡板及环状挡板重复交替地配置;
圆形状挡板的半径大于位于其下方的环状挡板的开口部的半径。
6.根据权利要求3~5中任一项所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
位于上方的挡板彼此间的间隔为位于下方的挡板彼此间的间隔以上。
7.根据权利要求3~5中任一项所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
还具备多个子挡板(9g~9i);
多个子挡板(9g~9i)被配置在多段排列地配置的挡板(9d~9f)彼此之间及/或中空筒状部件(9c)的底部与最下方的挡板(9d)之间;
各子挡板(9g~9i)与多段排列地配置的挡板(9d~9f)交叉;
各子挡板(9g~9i)在也与中空筒状部件(9c)的中心轴的径向交叉的方向上延伸地设置。
8.根据权利要求7所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
各子挡板(9g~9i)为以中空筒状部件(9c)的中心轴为中心的筒状;
各子挡板(9g~9i)将多段排列地配置的挡板(9d~9f)彼此之间及/或所述中空筒状部件(9c)的底部与所述最下方的挡板(9d)之间连结;
各子挡板(9g~9i)具备构成原料气体(3)的流动路径的开口部(9ga~9ia)。
9.根据权利要求8所述的碳化硅单晶的制造装置,其中,
各子挡板(9g~9i)被每种多个排列地配置在多段排列地配置的挡板(9d~9f)彼此之间及/或所述中空筒状部件(9c)的底部与所述最下方的挡板(9d)之间。
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